[發明專利]NTC熱敏芯片的測試方法在審
| 申請號： | 201610362528.2 | 申請日： | 2016-05-26 |
| 公開（公告）號： | CN105841846A | 公開（公告）日： | 2016-08-10 |
| 發明（設計）人： | 湯成平;劉剛;王梅鳳;高進;薛云峰;唐敏;王靜 | 申請（專利權）人： | 句容市博遠電子有限公司 |
| 主分類號： | G01K15/00 | 分類號： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 江蘇圣典律師事務所 32237 | 代理人： | 吳庭祥 |
| 地址： | 212400 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | ntc 熱敏 芯片 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
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