[發(fā)明專利]一種用于測試探針氧化的磨針清針系統(tǒng)及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610357337.7 | 申請日: | 2016-05-26 |
| 公開(公告)號: | CN107436373B | 公開(公告)日: | 2020-09-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉琦;陳致遠(yuǎn);張如山 | 申請(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/073 | 分類號: | G01R1/073;B08B5/02 |
| 代理公司: | 北京市磐華律師事務(wù)所 11336 | 代理人: | 高偉;馮永貞 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 測試 探針 氧化 磨針清針 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種用于測試探針氧化的磨針清針系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括:
探針測試單元,包括探針卡和設(shè)置于所述探針卡中的突出的探針,用于晶圓測試;
成像分析單元,包括設(shè)置于所述探針卡基板上的若干成像器件,所述成像器件對準(zhǔn)所述探針的針尖并且均勻?qū)ΨQ地設(shè)置于所述探針的四周,用于對所述探針進(jìn)行成像并對所述探針的灰度進(jìn)行分析,所述成像分析單元將所述灰度和設(shè)定的灰度閾值進(jìn)行比較,判斷所述探針是否異常,所述設(shè)定的灰度閾值根據(jù)未被氧化、污染的探針針尖灰度的加權(quán)平均值進(jìn)行確定;
磨針清針單元,包括磨針設(shè)備和若干氣體清潔設(shè)備,其中所述氣體清潔設(shè)備正對所述探針,用于噴射氣體清除所述探針上的雜物;
控制單元,分別與所述成像分析單元和所述磨針清針單元通訊,用于控制所述成像分析單元對所述探針成像并進(jìn)行灰度分析,控制所述磨針設(shè)備進(jìn)行磨針處理,和控制所述氣體清潔設(shè)備中氣體的通斷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述成像器件與所述氣體清潔設(shè)備組裝為一體。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng),其特征在于,所述氣體清潔設(shè)備均勻?qū)ΨQ地設(shè)置于所述探針的四周。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述氣體清潔設(shè)備設(shè)置有扁平的噴嘴,以噴射高壓氣體。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述成像分析單元根據(jù)每個探針的標(biāo)定區(qū)域內(nèi)像素的平均值和權(quán)重,計(jì)算所述探針的標(biāo)定區(qū)域內(nèi)所述探針的像素加權(quán)平均值,以得到所述探針的所述灰度。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述控制模塊設(shè)置有現(xiàn)場可編程門陣列,并且可與設(shè)置于測試系統(tǒng)中的自動化測試設(shè)備進(jìn)行通訊,以對所述磨針清針系統(tǒng)進(jìn)行控制。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng),其特征在于,所述成像器件包括CMOS圖像傳感器,并通過成像導(dǎo)纜線與所述控制單元連接。
8.一種用于測試探針氧化的磨針清針方法,其特征在于,所述方法包括:
采用均勻?qū)ΨQ地設(shè)置于所述探針的四周的成像器件對所述探針進(jìn)行成像,以得到所述探針的圖像;
對所述圖像進(jìn)行分析,以得到所述探針的灰度;
判斷所述灰度是否大于灰度閾值,當(dāng)所述探針的灰度大于所述灰度閾值時,對所述探針進(jìn)行磨針和/或氣體清針處理,所述設(shè)定的灰度閾值根據(jù)未被氧化、污染的探針針尖灰度的加權(quán)平均值進(jìn)行確定。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于,對所述圖像進(jìn)行分析,以得到所述探針的灰度的步驟包括:
調(diào)整標(biāo)定探針針尖的所述圖像和計(jì)算區(qū)域;
根據(jù)芯片管腳經(jīng)過的電流值標(biāo)定所述探針針尖的所述灰度的計(jì)算權(quán)重;
根據(jù)所述權(quán)重計(jì)算清潔的未氧化物的探針針尖的標(biāo)準(zhǔn)灰度;
對所述探針進(jìn)行成像同時計(jì)算所述探針針尖的所述灰度。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于,對所述探針進(jìn)行磨針和/或氣體清針處理之后重新判斷所述灰度是否超過灰度閾值,若仍超過所述灰度閾值,則重復(fù)所述成像、磨針清針步驟,至所述探針灰度低于所述灰度閾值或至磨針次數(shù)達(dá)到磨針次數(shù)上限為止。
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