[發明專利]一種檢測小區干擾的方法和裝置

在審

• 申請號: 201610356338.X
• 申請日: 2016-05-25
• 公開（公告）號: CN107438255A
• 公開（公告）日: 2017-12-05
• 發明（設計）人: 雷婷;羅金武;柳海輝;朱濤;范小麗
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04W24/02
• 分類號: H04W24/02;H04W24/08
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司11270
• 代理人: 王花麗,蔣雅潔

1.一種檢測小區干擾的方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取選擇區域內每一個小區存在干擾告警時的基站測量信息數據，所述基站測量信息數據包括：干擾功率數據和門限數據；

分別根據所述每一個小區的干擾功率數據和所述門限數據，確定所述每一個小區的干擾類型，所述干擾類型包括：前向干擾和后向干擾；

根據所述選擇區域內前向干擾和后向干擾的小區個數確定干擾小區。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，第一小區為所述選擇區域內的任意一個小區，根據所述第一小區的干擾功率數據和所述門限數據確定所述第一小區的干擾類型，包括：

根據所述第一小區干擾功率數據和所述門限數據確定所述第一小區是否存在干擾；

當確定所述第一小區存在干擾時，根據所述第一小區的干擾功率數據的滾降特性確定所述第一小區是否為帶內功率干擾；

當確定所述第一小區為帶內功率干擾時，過濾掉所述第一小區中的重復的干擾功率數據，選取所述第一小區的干擾功率數據中距離當前時間最近的干擾功率數據為第一干擾功率數據，確定所述第一干擾功率數據中距離當前時間最近的時隙位置為所述第一小區的干擾時隙位置；

根據所述第一小區的干擾時隙位置確定所述第一小區的干擾類型。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，

所述門限數據包括：常規上行子幀的底噪門限、上行導頻時隙UpPTS的底噪門限、RB數門限；

所述干擾功率數據包括：UpPTS1、UpPTS2、時隙1Slot1、時隙2Slot2四個符號，每一個符號包括n個RB的平均值和n個RB的最大值，n為自然數。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一小區干擾功率數據和所述門限數據確定所述第一小區是否存在干擾，包括：

當所述第一小區的UpPTS1的n個RB的平均值超過所述UpPTS的底噪門限的RB個數大于所述RB數門限，或所述第一小區的UpPTS2的n個RB的平 均值超過所述UpPTS的底噪門限的RB個數大于所述RB數門限，或所述第一小區的Slot1的n個RB的平均值超過所述常規上行子幀的底噪門限的RB個數大于所述RB數門限，或所述第一小區的Slot2的n個RB的平均值超過所述常規上行子幀的底噪門限的RB個數大于所述RB數門限，確定所述第一小區存在干擾。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一小區的干擾功率數據的滾降特性確定所述第一小區是否為帶內功率干擾，包括：

設置滾降特性分析上邊界和下邊界選擇的RB數目為m，m為大于0的自然數，當n大于等于15時，m的值為15，當n小于15時，m等于n；

分別根據所述第一小區的四個符號中每一個符號的n個RB的平均值確定每一個符號上邊界和下邊界的滾降特性；

當所述第一小區的四個符號中至少一個符號的上邊界或下邊界存在滾降特性，確定所述第一小區為帶內功率干擾。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，第一符號為所述第一小區的四個符號中任一個符號，確定所述第一符號上邊界和下邊界的滾降特性，包括：

選取n個RB的平均值的第一個RB的平均值至第m個RB的平均值為所述第一符號上邊界，選取n個RB的平均值的第n-m+1個RB的平均值至第n個RB的平均值為所述第一符號下邊界；

設置RB選擇間隔為ΔRB，設置第一門限和第二門限；

從所述第一符號上邊界的第m個RB的平均值開始，每隔ΔRB選取一個RB的平均值，直到選取到所述第一個RB的平均值，分別確定選取間隔為ΔRB的相鄰兩個平均值之差為第一數值，分別將所述第一符號上邊界的所述第一數值與第一門限比較，確定所述第一數值大于所述第一門限的個數為第二數值，當所述第二數值大于所述第二門限時，確定所述第一符號上邊界存在滾降特性；

從所述第一符號下邊界的第n個RB的平均值開始，每隔ΔRB選取一個RB的平均值，直到選取到所述第n-m+1個RB的平均值，分別確定選取間隔為ΔRB的相鄰兩個平均值之差為第三數值，分別將所述第一符號下邊界的所述第三數值與第一門限比較，確定所述第三數值大于所述第一門限的個數為第四數值，當所述第四數值大于所述第二門限時，確定所述第一符號下邊界存在滾降特性。