[發(fā)明專利]一種基于視覺的多針腳元器件定位及針腳誤差檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610353616.6 | 申請日: | 2016-05-26 |
| 公開(公告)號: | CN107436124A | 公開(公告)日: | 2017-12-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張文昌;賀志強;姬麗娟;馬鴻飛;鄧強;竇富萍 | 申請(專利權(quán))人: | 機科發(fā)展科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100044*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 視覺 針腳 元器件 定位 誤差 檢測 方法 | ||
1.一種基于視覺的多針腳元器件定位及針腳誤差檢測方法,其特征在于通過高斯牛頓法計算元器件各針腳視覺實測坐標(biāo)相對于理論坐標(biāo)的旋轉(zhuǎn)平移關(guān)系實現(xiàn)元器件的空間定位及各針腳的誤差檢測,所述方法包括以下步驟:
(1)視覺傳感器采元器件圖像,計算元器件各個針腳在攝像機坐標(biāo)系下的坐標(biāo)
(2)建立元器件各針腳視覺實測坐標(biāo)相對于理論坐標(biāo)的誤差函數(shù)
(3)計算元器件各針腳實測坐標(biāo)相對理論坐標(biāo)之間旋轉(zhuǎn)平移關(guān)系的梯度矩陣和最小二乘解
(4)給定理論初值多次迭代得到元器件各針腳實測坐標(biāo)相對于理論坐標(biāo)的旋轉(zhuǎn)平移關(guān)系和各針腳的誤差 。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,步驟(2)具體為:
對于n個針腳的元器件,Pi=(Xi,Yi)T(1≤i≤n)為元器件各針腳理論坐標(biāo),Qi=(xi,yi)T為元器件各針腳在CCD相機下的實測坐標(biāo),θ為兩者之間的旋轉(zhuǎn)關(guān)系,(Tx,Ty)T為兩者之間的平移關(guān)系,建立誤差函數(shù)
。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,步驟(3)中具體為:
將誤差寫成梯度矩陣乘以旋轉(zhuǎn)平移關(guān)系的形式:
ε≈A·ΔP
其中,ΔP=[Δθ ΔTx ΔTy]T
ΔP的最小二乘解為:
ΔP=(ATA)-1ATε 。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,步驟(4)具體為:
給定理論初始值P0=[θ0 Tx0 Ty0]T,經(jīng)多次最小二乘迭代,即可得到元器件各針腳相對于理論坐標(biāo)的旋轉(zhuǎn)平移關(guān)系ΔP以及各針腳誤差。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于機科發(fā)展科技股份有限公司,未經(jīng)機科發(fā)展科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610353616.6/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





