[發(fā)明專(zhuān)利]一種攪拌子檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610352935.5
• 申請(qǐng)日: 2016-05-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN106054090B
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-04-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 夏吉安;卓晴;王福洋
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 北京先驅(qū)威鋒技術(shù)開(kāi)發(fā)公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R33/07
• 分類(lèi)號(hào): G01R33/07
• 代理公司: 北京康思博達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11426
• 代理人: 劉冬梅,路永斌

1.一種攪拌子檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)用于檢測(cè)攪拌子的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)，其包括容器(1)、攪拌子(2)、攪拌器(3)、第一光電管(5)、霍爾傳感器(4)、第二光電管(6)和控制器，其中，

所述攪拌子(2)包括普通攪拌子和校正攪拌子，所述普通攪拌子為純白色，所述校正攪拌子的一端為白色、另一端為黑色；

所述攪拌器(3)包括永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)(31)和轉(zhuǎn)盤(pán)帶動(dòng)器(32)；

所述第一光電管(5)設(shè)置于永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)(31)的下方，用于檢測(cè)永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)的起始位置；

所述霍爾傳感器(4)設(shè)置于永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)(31)的上方、攪拌子(2)的下方，且其到永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)(31)的圓心的距離大于永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)的半徑，用于檢測(cè)攪拌子(2)和永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)(31)的磁場(chǎng)信號(hào)，其中，所述攪拌子為普通攪拌子；

所述第二光電管(6)位于攪拌子(2)的上方，用于檢測(cè)攪拌子(2)的轉(zhuǎn)動(dòng)相位，其中，所述攪拌子為校正攪拌子；

所述控制器用于控制攪拌器(3)的轉(zhuǎn)動(dòng)，并接收和儲(chǔ)存第一光電管(5)、霍爾傳感器(4)和第二光電管(6)的輸出信號(hào)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，

在所述永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)(31)上設(shè)置有兩塊方向相反的永磁鐵(311)，用于形成外部磁場(chǎng)；和/或

所述轉(zhuǎn)盤(pán)帶動(dòng)器(32)為步進(jìn)電機(jī)，所述步進(jìn)電機(jī)包括驅(qū)動(dòng)芯片，所述步進(jìn)電機(jī)旋轉(zhuǎn)一周所需要的脈沖數(shù)為N＝N_p·N_a·N_d，其中，N_p為步進(jìn)電機(jī)的極對(duì)數(shù)，N_a為驅(qū)動(dòng)芯片的換向節(jié)拍數(shù)，N_d為驅(qū)動(dòng)芯片的細(xì)分步數(shù)；和/或

所述控制器為單片機(jī)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其特征在于，

所述霍爾傳感器(4)與信號(hào)放大電路連接形成霍爾信號(hào)放大電路，用于檢測(cè)攪拌子與永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)之間的磁場(chǎng)信號(hào)，其中攪拌子產(chǎn)生的磁場(chǎng)為攪拌子磁場(chǎng)，記為永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)產(chǎn)生的磁場(chǎng)為永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)磁場(chǎng)，記為攪拌子磁場(chǎng)與永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)磁場(chǎng)疊加后的磁場(chǎng)為疊加磁場(chǎng)，記為

所述信號(hào)放大電路用于放大霍爾傳感器(4)的輸出信號(hào)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述信號(hào)放大電路為電容交流耦合放大電路(8)。

5.利用權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)檢測(cè)攪拌子的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)的方法，其中，所述方法包括以下步驟：

步驟1、獲得攪拌子的轉(zhuǎn)動(dòng)相位，記為θ₁’；

步驟2、分別獲得永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)的磁場(chǎng)相位，記為θ₀，以及攪拌子的磁場(chǎng)相位，記為θ₁；

步驟3、根據(jù)步驟1獲得的攪拌子的轉(zhuǎn)動(dòng)相位對(duì)攪拌子的磁場(chǎng)相位進(jìn)行校正，得攪拌子的校正相位，記為θ₁”；

步驟4、根據(jù)步驟2獲得的θ₀以及步驟3獲得的θ₁”，獲得永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)與攪拌子的相位差，并根據(jù)相位差判斷攪拌子的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中，

步驟1包括以下子步驟：

步驟1-1、將校正攪拌子放于容器中，啟動(dòng)攪拌器；

步驟1-2、第二光電管(6)發(fā)送紅外光線(xiàn)，校正攪拌子在旋轉(zhuǎn)時(shí)其白色一端檢測(cè)到紅外光線(xiàn)，并將紅外光線(xiàn)反射回第二光電管(6)；

步驟1-3、第二光電管(6)根據(jù)步驟1-2的反射光輸出波動(dòng)的信號(hào)，獲得攪拌子的轉(zhuǎn)動(dòng)相位；

和/或

步驟2包括以下子步驟：

步驟2-1、將校正攪拌子換為普通攪拌子，啟動(dòng)攪拌器；

步驟2-2、通過(guò)霍爾傳感器(4)檢測(cè)磁場(chǎng)信號(hào)，同時(shí)采用步進(jìn)電機(jī)進(jìn)行磁場(chǎng)信號(hào)數(shù)據(jù)點(diǎn)的同步采集；

步驟2-3、根據(jù)步驟2-2采集的磁場(chǎng)信號(hào)獲得永磁鐵轉(zhuǎn)盤(pán)的磁場(chǎng)相位和攪拌子的磁場(chǎng)相位；

和/或

步驟3包括以下子步驟：

步驟3-1、獲得攪拌子的磁場(chǎng)相位θ₁與攪拌子的轉(zhuǎn)動(dòng)相位θ₁’之間的誤差，并將所述誤差傳入控制器進(jìn)行存儲(chǔ)；

步驟3-2、通過(guò)步驟3-1獲得的誤差對(duì)攪拌子的磁場(chǎng)相位進(jìn)行校正，得攪拌子的校正相位θ₁”。