[發明專利]一種X射線應力測試中平均腐蝕深度的測量裝置

有效

• 申請號: 201610352115.6
• 申請日: 2016-05-25
• 公開（公告）號: CN105783669B
• 公開（公告）日: 2019-03-19
• 發明（設計）人: 薛歡;葛銳;馬玉喜;凃應宏;張彤;嚴龍;鄺蘭翔;朱琳娜
• 申請（專利權）人: 武漢鋼鐵有限公司
• 主分類號: G01B5/18
• 分類號: G01B5/18
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 鐘鋒

1.一種X射線應力測試中平均腐蝕深度的測量裝置，其特征在于，包括支座、支桿和千分表，所述支座為開口朝下的“U”型空心折彎件，所述支桿為空心直桿，支桿上下兩端分別與支座頂部中心和所述千分表底部中心相連，支座頂部空腔內水平設有平衡板，所述平衡板中心通過銷軸與支座相連，平衡板上設有旋轉彈簧，支座底面均勻間隔設有三個套管，平衡板頂面中心與主彈簧底端相連，主彈簧的頂端與千分表相連，平衡板底面均勻間隔與三根副彈簧的頂端相連，所述三根副彈簧的底端均設有球體，副彈簧外套設有護套，所述護套底端與所述球體固連，三根副彈簧與所述三個套管相對應設置，護套插入套管并可沿套管滑動。

2.根據權利要求1所述的一種X射線應力測試中平均腐蝕深度的測量裝置，其特征在于，所述支桿上套設有環形把手，所述千分表頂部中心設有圓柱把手。

3.根據權利要求1或2所述的一種X射線應力測試中平均腐蝕深度的測量裝置，其特征在于，所述護套外徑與所述套管內徑相同，護套長度小于或等于套管長度。

4.根據權利要求1所述的一種X射線應力測試中平均腐蝕深度的測量裝置，其特征在于，所述千分表包括主表盤和副表盤，所述主表盤上的主指針指示平均深度值，所述副表盤上的副指針指示主指針旋轉圈數。