[發明專利]用于光譜儀光學系統恒溫的控制系統及方法

有效

• 申請號: 201610347331.1
• 申請日: 2016-05-24
• 公開（公告）號: CN105867472B
• 公開（公告）日: 2018-03-27
• 發明（設計）人: 王先國;李太福;姚立忠;唐德東;田應甫;楊永龍;孫小媛;李清玲;張恒健
• 申請（專利權）人: 重慶科瑞分析儀器有限公司;重慶科技學院
• 主分類號: G05D23/30
• 分類號: G05D23/30
• 代理公司: 重慶蘊博君晟知識產權代理事務所(普通合伙)50223
• 代理人: 王玉芝

1.一種用于光譜儀光學系統恒溫的控制系統，包括加熱單元、測溫傳感器和控制單元，其中，所述控制單元包括脈沖發生器、放大電路、電壓比較器、驅動電路和MOS場效應晶體管；

所述加熱單元，用于采用脈沖電流對光譜儀光學系統進行加熱；

所述測溫傳感器，用于采集所述加熱單元的溫度信號加載到所述控制單元；

所述脈沖發生器，用于產生正弦正半波脈沖，所述脈沖發生器產生的正弦正半波脈沖的頻率、脈寬和幅值為固定值；

所述放大電路，用于對所述測溫傳感器采集的溫度信號進行放大處理，并且設定溫度；

所述電壓比較器，用于對所述脈沖發生器產生的脈沖信號與所述放大電路輸出的電壓信號進行比較，并將比較后形成的脈沖信號加載到所述驅動電路上；

所述驅動電路，用于將所述脈沖信號放大后推動所述MOS場效應晶體管，給所述加熱單元送電；

在所述脈沖發生器產生的脈沖信號與所述放大電路輸出的電壓信號進行比較的過程中，比較后形成的所述脈沖信號的脈沖寬度隨所述溫度信號的改變而改變。

2.如權利要求1所述的用于光譜儀光學系統恒溫的控制系統，其中，

所述放大電路的設定的溫度范圍為0～50℃。

3.一種用于光譜儀光學系統恒溫的控制方法，采用如權利要求1-2任一項所述的用于光譜儀光學系統恒溫的控制系統對光譜儀光學系統進行恒溫控制，其方法如下：

測溫傳感器從加熱單元采集到的溫度信號加載到控制單元，并對所述控制單元產生的固定頻率的正弦正半波上進行斬波；

當所述測溫傳感器采集到的溫度遠小于設定的溫度值時，斬波后得到的脈沖信號的脈沖寬度寬，將此斬波后的脈沖信號加載到驅動電路上，所述驅動電路驅動MOS場效應晶體管，所述MOS場效應晶體管在一個加熱周期中導通時間長；

當所述測溫傳感器采集到的溫度接近于設定的溫度值時，斬波后得到的脈沖信號的脈沖寬度窄，將此時斬波后的脈沖信號加載到驅動電路上，所述驅動電路驅動MOS場效應晶體管，所述MOS場效應晶體管在一個加熱周期中導通時間短；

光學系統損失的熱量與加熱補充的熱量相同，光學系統溫度保持恒定。