[發明專利]一種屏幕模組觸控方法、裝置及終端在審
| 申請號: | 201610345173.6 | 申請日: | 2016-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN107422892A | 公開(公告)日: | 2017-12-01 |
| 發明(設計)人: | 程攀剛;李小梅 | 申請(專利權)人: | 中興通訊股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041;G06F3/044;G06K9/00 |
| 代理公司: | 深圳鼎合誠知識產權代理有限公司44281 | 代理人: | 江婷,李發兵 |
| 地址: | 518057 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 屏幕 模組 方法 裝置 終端 | ||
1.一種屏幕模組觸控方法,包括:
檢測屏幕模組的非形變層和屏幕模組的形變層之間的距離變化參數,所述非形變層不隨觸控操作形變,所述形變層的觸控區域隨觸控操作發生形變,所述形變層距離屏幕模組外表面的距離小于所述非形變層距離屏幕模組外表面的距離;
根據所述距離變化參數確定對應的觸控操作,并執行所述觸控操作對應的指令。
2.如權利要求1所述的屏幕模組觸控方法,其特征在于,所述檢測非形變層與形變層之間的距離變化參數包括:
檢測預設時間段內形變層接收的高頻電磁脈沖數量,并根據所述高頻電磁脈沖數量確定所述距離變化參數;
或,檢測單個高頻電磁脈沖到達形變層所需的時間長度,并根據所述時間長度確定所述距離變化參數。
3.如權利要求2所述的屏幕模組觸控方法,其特征在于,所述距離變化參數包括壓力觸控檔位,所述檢測非形變層與形變層之間的壓力觸控檔位包括:
根據所述高頻電磁脈沖數量或時間長度確定形變層與非形變層之間發生距離變化的形變區域,并確定與所述形變區域對應的觸控對象,檢測所述形變區域的壓力觸控檔位;
所述根據所述距離變化參數確定對應的觸控操作,并執行所述觸控操作對應的指令包括:
將檢測到的壓力觸控檔位與所述觸控對象預設的觸控操作參數進行匹配以確定對應的觸控操作,根據所述觸控操作控制所述觸控對象執行對應的壓力觸控響應。
4.如權利要求2所述的屏幕模組觸控方法,其特征在于,所述距離變化參數包括圖形參數,所述檢測非形變層與形變層之間的圖形參數包括:
根據所述高頻電磁脈沖數量或時間長度確定非形變層與形變層之間發生距離變化的形變區域,并確定與所述形變區域對應的觸控對象,檢測所述形變區域的圖形參數;
所述根據所述距離變化參數確定對應的觸控操作,并執行所述觸控操作對應的指令包括:
將檢測到的圖形參數與所述觸控對象預設的觸控操作參數進行匹配以確定對應的觸控操作,根據觸控操作控制所述觸控對象執行對應的圖形識別響應。
5.如權利要求1-4任一項所述的屏幕模組觸控方法,其特征在于,所述檢測非形變層和形變層之間的距離變化參數包括:
通過非形變層或形變層向另一層發送測距信號,檢測所述距離變化參數;
或,通過非形變層或形變層向另一層發送所述測距信號并接收另一層反饋的所述測距信號,檢測所述距離變化參數。
6.一種屏幕模組觸控裝置,其特征在于,包括:
檢測模塊,用于檢測屏幕模組的非形變層和屏幕模組的形變層之間的距離變化參數,所述非形變層不隨觸控操作形變,所述形變層的觸控區域隨觸控操作發生形變,所述形變層距離屏幕模組外表面的距離小于所述非形變層距離屏幕模組外表面的距離;
觸控操作確定模塊,用于根據所述距離變化參數確定對應的觸控操作,并執行所述觸控操作對應的指令。
7.如權利要求6所述的屏幕模組觸控裝置,其特征在于,所述檢測模塊包括:
脈沖檢測子模塊,用于檢測預設時間段內形變層接收的高頻電磁脈沖數量,并根據所述高頻電磁脈沖數量確定所述距離變化參數;
時間檢測子模塊,用于檢測單個高頻電磁脈沖到達形變層所需的時間長度,并根據所述時間長度確定所述距離變化參數。
8.一種終端,包括終端本體,其特征在于,還包括:屏幕模組、存儲器和控制器;所述屏幕模組包括不隨觸控操作形變的非形變層和觸控區域隨觸控操作發生形變的形變層,形變層距離屏幕模組外表面的距離小于非形變層距離屏幕模組外表面的距離;
所述控制器用于檢測非形變層和形變層之間的距離變化參數,根據所述距離變化參數確定對應的觸控操作,并執行所述觸控操作對應的指令;
所述存儲器用于存儲所述控制器檢測的距離變化參數和預設的觸控操作參數。
9.如權利要求8所述的終端,其特征在于,所述距離變化參數包括壓力觸控檔位,所述控制器用于確定非形變層與形變層之間發生距離變化的形變區域,并確定與形變區域對應的觸控對象,將檢測到的壓力觸控檔位與觸控對象預設的觸控操作參數進行匹配,根據匹配結果控制觸控對象執行對應的壓力觸控響應。
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