[發明專利]測試方法以及測試裝置

有效

• 申請號: 201610343974.9
• 申請日: 2016-05-23
• 公開（公告）號: CN107423168B
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 譚麗娟;晏啟劍
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京龍雙利達知識產權代理有限公司 11329
• 代理人: 王君;劉愛平

本發明實施例提供了測試方法和測試裝置，該測試方法包括在測試單板啟動內核并且完成初始化之后，獲取所述測試單板根據測試序列生成的端口數據；將所述端口數據和預先存儲的與所述測試序列對應的對比數據進行對比，確定所述測試單板的端口的測試結果。本發明實施例中，測試單板在啟動內核并且完成初始化后，對應端口的硬件能夠正常工作，這時即可啟動測試程序，并且不需要等待測試單板穩定輸出顯示結果就能夠判斷測試單板是否正常工作，因此本發明實施例能夠減少測試所需的時間，提高測試效率。

技術領域

本發明涉及設備生產和測試領域，具體的，涉及設備生產和測試領域中的測試方法和測試裝置。

背景技術

電視(Television，TV)、手機或者機頂盒等帶有顯示輸入輸出接口的設備在產線生產出廠前都需要經過產線測試，產線測試的效率會直接影響產品的生產成本。產線測試有別于功能測試，其重點關注生產的單板上各個器件的連通性。產線測試在輸入端輸入測試信號，在輸出端捕獲輸出信號，通過對測試信號和輸出信息進行比對來確定整個顯示通路是否正常。

目前的測試方案中，測試單板需要正常啟動到Android才能啟動測試程序，從上電到Android系統啟動完成的基線時間為20s至30s，并且需要等待測試單板的功能穩定輸出顯示之后，測試電腦才能根據測試單板輸出的顯示結果，確定測試結果。這導致測試的時間偏長，測試的整體效率偏低。

發明內容

本發明實施例提供了測試方法和測試裝置，能夠減小測試所需的時間，提高測試的效率。

第一方面，本發明實施例提供了一種測試方法，包括：在測試單板啟動內核并且完成初始化之后，獲取所述測試單板根據測試序列生成的端口數據；將所述端口數據和預先存儲的與所述測試序列對應的對比數據進行對比，確定所述測試單板的端口的測試結果。

本發明實施例在測試單板啟動內核并且完成初始化之后，將測試單板生成的端口數據和預先存儲的對比數據進行對比，能夠確定測試單板的端口是否正常工作。本發明實施例中，測試單板在啟動內核并且完成初始化后，對應端口的硬件能夠正常工作，這時即可啟動測試程序，并且不需要等待測試單板穩定輸出顯示結果就能夠判斷測試單板是否正常工作，因此本發明實施例能夠減少測試所需的時間，提高測試效率。

可選的，所述測試單板的端口為輸入端口，所述方法由測試單板執行，所述獲取所述測試單板根據測試序列生成的端口數據，包括：

接收測試控制盒發送的所述測試序列，所述測試序列是所述測試控制盒在所述測試單板上電之后發送的；

根據所述測試序列生成所述端口數據。

這里，測試控制盒中預先存儲該測試序列，測試單板中預先存儲該測試序列對應的對比數據。這樣，測試單板可以在啟動內核并且完成初始化之后，接收測試控制盒發送的測試序列，并生成端口數據，并且測試單板還可以將該端口數據和預先存儲的對比數據進行對比，能夠確定測試單板的輸入端口是否正常工作。

可選的，所述方法還包括：

向測試電腦發送所述端口的測試結果。具體的，測試結果可以通過測試控制盒轉發至測試電腦。測試單板向測試電腦發送的測試結果所占的字節可以很小。

可選的，所述測試單板的端口為輸出端口，所述方法由測試電腦執行，所述獲取所述測試單板根據測試序列生成的端口數據，包括：

接收測試控制盒轉發的所述端口數據，所述端口數據是所述測試單板根據預先存儲的所述測試序列生成并發送至所述測試控制盒的。

這里，測試單板中預先存儲該測試序列，測試電腦中預先存儲該測試序列對應的對比數據。這樣，測試電腦可以在測試單板啟動內核并且完成初始化之后，接收測試控制盒轉發測試單板根據預先存儲的測試序列生成的端口數據，并且測試電腦還可以將該端口數據和預先存儲的對比數據進行對比，能夠確定測試單板的輸出端口是否正常工作。