[發(fā)明專利]一種錐孔檢測塞規(guī)及其檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610343735.3 | 申請日: | 2016-05-20 |
| 公開(公告)號: | CN107401963A | 公開(公告)日: | 2017-11-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 路闊;彭光林;何偉;孟巖;陳遠琴;馬杰;王鑫;胡友良 | 申請(專利權(quán))人: | 天津泰威齒輪有限公司 |
| 主分類號: | G01B3/46 | 分類號: | G01B3/46;G01B3/56 |
| 代理公司: | 天津濱海科緯知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司12211 | 代理人: | 張瑩 |
| 地址: | 300350 天津*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 檢測 塞規(guī) 及其 方法 | ||
1.一種錐孔檢測塞規(guī),其特征在于:包括塞規(guī)本體,所述塞規(guī)本體包括檢測部(3)和手持部(1),所述檢測部(3)和手持部(1)位于所述塞規(guī)本體的兩端,所述檢測部(3)為錐形,所述檢測部(3)和手持部(1)中間設(shè)有凸起(2),使檢測部(3)與手持部(1)分隔開,所述檢測部(3)表面設(shè)有多條第一凹槽(5),所述第一凹槽(5)為環(huán)形并且相鄰的第一凹槽(5)之間距離相同。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種錐孔檢測塞規(guī),其特征在于:所述檢測部(5)表面設(shè)有多條與所述第一凹槽(5)相交的沿檢測部軸向的第二凹槽(6),所述相鄰的第二凹槽(6)之間距離相同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種錐孔檢測塞規(guī),其特征在于:所述檢測部(3)表面經(jīng)過淬火處理。
4.一種根據(jù)權(quán)利要求1所述的錐孔檢測塞規(guī)的檢測方法,其特征在于,其步驟如下:
1)將塞規(guī)檢測部(3)放入待檢測錐孔(4)的大端;
2)推動手持部(1)將塞規(guī)的檢測部(3)和待檢測錐孔(4)壓緊,使用游標卡尺測量凸起(2)到待檢測錐孔端面的距離;
3)根據(jù)塞規(guī)的錐度計算錐孔大小;
4)在檢測部均勻抹上洋紅后,將塞規(guī)放入待檢測錐孔,左右旋轉(zhuǎn)后,取出塞規(guī)后,通過第一凹槽(5)和第二凹槽(6)組成的網(wǎng)格算出洋紅接觸錐孔的面積,判斷錐度是否合格。
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