[發(fā)明專利]數(shù)字電路的工藝角檢測(cè)裝置和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610342081.2 | 申請(qǐng)日: | 2016-05-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105956322B | 公開(公告)日: | 2019-06-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 許曉峰;鄭金鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 硅谷數(shù)模半導(dǎo)體(北京)有限公司;硅谷數(shù)模國際有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F17/50 | 分類號(hào): | G06F17/50 |
| 代理公司: | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240 | 代理人: | 韓建偉;張永明 |
| 地址: | 100086 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 數(shù)字電路 工藝 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于硅谷數(shù)模半導(dǎo)體(北京)有限公司;硅谷數(shù)模國際有限公司,未經(jīng)硅谷數(shù)模半導(dǎo)體(北京)有限公司;硅谷數(shù)模國際有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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