[發(fā)明專利]一維有序氧化鎢/氧化鈦核殼納米線在檢測二氧化氮中的應用在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610332519.9 | 申請日： | 2016-05-18 |
| 公開（公告）號： | CN107402240A | 公開（公告）日： | 2017-11-28 |
| 發(fā)明（設計）人： | 秦玉香;張曉娟;王克行;張?zhí)煲?/a>;劉雕;胡明 | 申請（專利權）人： | 天津大學 |
| 主分類號： | G01N27/12 | 分類號： | G01N27/12 |
| 代理公司： | 天津創(chuàng)智天誠知識產權代理事務所(普通合伙)12214 | 代理人： | 王秀奎 |
| 地址： | 300072*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 有序 氧化鎢 氧化 鈦核殼 納米 檢測 二氧化氮 中的 應用 | ||
【權利要求書】：
1.一維有序氧化鎢/氧化鈦核殼納米線在檢測二氧化氮中的應用，其特征在于，一維有序氧化鎢/氧化鈦核殼納米線，以氧化鎢為核，以氧化鈦為殼，在氧化鎢的外圍均勻地包裹氧化釩，氧化鎢/氧化鈦核殼納米線長度為800—1000nm，氧化鎢的直徑為20-30nm，氧化鈦的厚度為10-20nm，氧化鎢和氧化鈦形成了同軸核殼異質結構。
2.根據權利要求1所述的一維有序氧化鎢/氧化鈦核殼納米線在檢測二氧化氮中的應用，其特征在于，氧化鎢/氧化鈦核殼納米線長度為850—1000nm，氧化鎢的直徑為25-30nm，氧化鈦的厚度為10-18nm 。
3.根據權利要求1所述的一維有序氧化鎢/氧化鈦核殼納米線在檢測二氧化氮中的應用，其特征在于，一維有序氧化鎢/氧化鈦核殼納米線在基底上形成納米線陣列，即氧化鎢/氧化鈦核殼納米線基本垂直于基底表面進行設置，以形成納米線陣列，宏觀上表現為膜結構。
4.根據權利要求1—3之一所述的一維有序氧化鎢/氧化鈦核殼納米線在檢測二氧化氮中的應用，其特征在于，在室溫下呈現n-p反型現象，最低可檢測值為0.5ppm，室溫為20—30攝氏度，優(yōu)選20—25攝氏度。
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