[發明專利]X射線熒光分析儀器及用于其的樣品容器有效
| 申請號： | 201610330739.8 | 申請日： | 2016-05-18 |
| 公開（公告）號： | CN107402196B | 公開（公告）日： | 2020-09-25 |
| 發明（設計）人： | 徐章程 | 申請（專利權）人： | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號： | G01N21/64 | 分類號： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 上海市華誠律師事務所 31210 | 代理人： | 徐樂樂 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 射線 熒光 分析儀器 用于 樣品 容器 | ||
1.一種用于X射線熒光分析儀器的樣品容器，其特征在于，
所述樣品容器由容器蓋、容器側壁和容器底部構成，用于存放樣品，
其中，所述容器蓋和所述容器側壁中的至少一個鑲嵌有多晶粉末材料，
其中，X射線經由所述容器底部入射到所述樣品容器中的樣品，并照射到所述容器蓋或所述容器側壁，所述多晶粉末材料具有衍射所述X射線的特性，
所述容器蓋具有可與所述樣品接觸的內表面和可與外界接觸的外表面，所述容器蓋在所述內表面和所述外表面之間的部分鑲嵌有所述多晶粉末材料；
所述容器側壁具有可與所述樣品接觸的內側面和可與外界接觸的外側面，所述容器側壁在所述內側面和所述外側面之間的部分鑲嵌有所述多晶粉末材料，
所述多晶粉末材料中所含元素的特征X射線能量位置與所述樣品中的被分析元素的特征X射線能量位置不相同。
2.如權利要求1所述的樣品容器，其特征在于，所述多晶粉末材料是氟化鋰多晶粉末或氮化硼多晶粉末。
3.如權利要求2所述的樣品容器，其特征在于，所述樣品容器是圓筒形的樣品杯，所述容器側壁是圓筒形側壁。
4.如權利要求3所述的樣品容器，其特征在于，所述容器底部是利用夾具被固定在所述圓筒形側壁下方的麥拉膜。
5.如權利要求4所述的樣品容器，其特征在于，所述X射線熒光分析儀器包括X射線發生裝置和X射線探測裝置，所述X射線發生裝置將X射線經過所述麥拉膜而入射到所述樣品容器中的所述樣品上，使得所述樣品發射出熒光，所述X射線探測裝置對所述熒光中的一部分進行探測。
6.一種X射線熒光分析儀器，其特征在于，包括：X射線發生裝置、X射線探測裝置和如權利要求1-5中任一項所述的樣品容器，
所述X射線發生裝置將X射線經過所述樣品容器的所述容器底部的麥拉膜而入射到所述樣品容器中的所述樣品上，使得所述樣品發射出熒光，所述X射線探測裝置對所述熒光中的一部分進行探測。
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