[發明專利]功率MOS失效位置的判定方法在審
| 申請號： | 201610329281.4 | 申請日： | 2016-05-18 |
| 公開（公告）號： | CN106019118A | 公開（公告）日： | 2016-10-12 |
| 發明（設計）人： | 馬香柏 | 申請（專利權）人： | 上海華虹宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/265 | 分類號： | G01R31/265;G01R31/311 |
| 代理公司： | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人： | 丁紀鐵 |
| 地址： | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 功率 mos 失效 位置 判定 方法 | ||
【說明書】：
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