[發明專利]一種測量薄膜折射率的方法在審
| 申請號： | 201610321923.6 | 申請日： | 2016-05-16 |
| 公開（公告）號： | CN106018342A | 公開（公告）日： | 2016-10-12 |
| 發明（設計）人： | 黃鴻;饒敬梅;李英欣;張順聰;董保志;王向忠 | 申請（專利權）人： | 云南瑞博檢測技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/41 | 分類號： | G01N21/41;G01N21/31 |
| 代理公司： | 太原高欣科創專利代理事務所(普通合伙)14109 | 代理人： | 曹玉存;冷錦超 |
| 地址： | 650101 云南省昆明市經*** | 國省代碼： | 云南;53 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測量 薄膜 折射率 方法 | ||
【權利要求書】：
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