[發(fā)明專利]一種基于直流電阻抗測(cè)量的細(xì)胞粒子檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610318565.3 | 申請(qǐng)日: | 2016-05-13 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107367453A | 公開(公告)日: | 2017-11-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陶靖 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海納衍生物科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N15/10 | 分類號(hào): | G01N15/10 |
| 代理公司: | 上海科盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司31225 | 代理人: | 宣慧蘭 |
| 地址: | 201108 上海市閔*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 直流電 阻抗 測(cè)量 細(xì)胞 粒子 檢測(cè) 方法 | ||
1.一種基于直流電阻抗測(cè)量的細(xì)胞粒子檢測(cè)方法,用以檢測(cè)細(xì)胞粒子的體積及數(shù)量,其特征在于,包括以下步驟:
1)通過直流電阻抗法獲取待檢測(cè)細(xì)胞粒子的脈沖信號(hào);
2)獲取脈沖信號(hào)的波形脈寬、多峰情況、峰值和谷值;
3)設(shè)定脈寬的閾值,并根據(jù)脈寬和多峰情況判斷脈沖信號(hào)為單粒子脈沖信號(hào)或者多粒子脈沖信號(hào),對(duì)細(xì)胞粒子進(jìn)行計(jì)數(shù),并且根據(jù)脈沖信號(hào)的峰值和谷值獲取細(xì)胞粒子的體積。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于直流電阻抗測(cè)量的細(xì)胞粒子檢測(cè)方法,其特征在于,所述的步驟3)中,脈寬的閾值h的計(jì)算式為:
h=K*W
其中,K為區(qū)分系數(shù),且1.1≤K≤2,W為單峰脈沖信號(hào)脈寬的均值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于直流電阻抗測(cè)量的細(xì)胞粒子檢測(cè)方法,其特征在于,所述的步驟3)具體包括以下判斷方法:
(1)若檢測(cè)到的脈沖信號(hào)為單峰信號(hào),且脈寬Wi≤h時(shí),則該脈沖信號(hào)的峰值代表該粒子的體積,粒子個(gè)數(shù)計(jì)為一個(gè);
(2)若檢測(cè)到的脈沖信號(hào)為多峰信號(hào),且脈寬Wi≤h時(shí),則該脈沖信號(hào)的谷值代表該粒子的體積,粒子個(gè)數(shù)計(jì)為一個(gè);
(3)若檢測(cè)到的脈沖信號(hào)為單峰信號(hào),且脈寬Wi>h時(shí),則舍棄該粒子,粒子個(gè)數(shù)不計(jì);
(4)若檢測(cè)到的脈沖信號(hào)為多峰信號(hào),且脈寬Wi>h時(shí),則該脈沖信號(hào)的多個(gè)峰值分別代表多個(gè)粒子的體積,粒子個(gè)數(shù)計(jì)為波峰個(gè)數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于直流電阻抗測(cè)量的細(xì)胞粒子檢測(cè)方法,其特征在于,所述的單峰脈沖信號(hào)脈寬的均值通過正態(tài)分布擬合或移動(dòng)平均處理獲得。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于直流電阻抗測(cè)量的細(xì)胞粒子檢測(cè)方法,其特征在于,所述的區(qū)分系數(shù)K的取值范圍為1.3~1.6。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于直流電阻抗測(cè)量的細(xì)胞粒子檢測(cè)方法,其特征在于,所述的方法(4)中具體包括以下判斷方法:當(dāng)脈沖信號(hào)為雙峰信號(hào)時(shí),則其二個(gè)峰值分別代表二個(gè)粒子的體積,粒子個(gè)數(shù)計(jì)為二個(gè)。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種基于直流電阻抗測(cè)量的細(xì)胞粒子檢測(cè)方法,其特征在于,所述的方法(4)具體包括以下判斷方法:當(dāng)脈沖信號(hào)為三峰信號(hào)時(shí),則其三個(gè)峰值分別代表三個(gè)粒子的體積,粒子個(gè)數(shù)計(jì)為三個(gè)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海納衍生物科技有限公司,未經(jīng)上海納衍生物科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610318565.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備





