[發(fā)明專利]用磁場離心、電擊錘吸附和相鄰電容的磨損微粒監(jiān)測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610311358.5 | 申請日： | 2016-05-12 |
| 公開（公告）號： | CN105909593A | 公開（公告）日： | 2016-08-31 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 趙徐濤 | 申請（專利權(quán)）人： | 紹興文理學(xué)院 |
| 主分類號： | F15B19/00 | 分類號： | F15B19/00;F15B21/04 |
| 代理公司： | 紹興市越興專利事務(wù)所(普通合伙) 33220 | 代理人： | 蔣衛(wèi)東 |
| 地址： | 312000 浙江*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 磁場 離心 電擊 吸附 相鄰 電容 磨損 微粒 監(jiān)測 方法 | ||
【說明書】：
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