[發(fā)明專利]一種沖洗甩干設(shè)備專用的多工位轉(zhuǎn)架裝置清洗晶片的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610309915.X | 申請(qǐng)日: | 2016-05-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106024674B | 公開(公告)日: | 2019-02-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王文麗;陳仲武;祝福生;夏楠君;王麗江;張偉鋒 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第四十五研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L21/67 | 分類號(hào): | H01L21/67;H01L21/02;B08B13/00 |
| 代理公司: | 北京中建聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11004 | 代理人: | 晁璐松 |
| 地址: | 100176 北京市大*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 沖洗 設(shè)備 多工位轉(zhuǎn)架 裝置 清洗 晶片 方法 | ||
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
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- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
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