[發明專利]一種精密小角度測量裝置

在審

• 申請號: 201610304167.6
• 申請日: 2016-05-10
• 公開（公告）號: CN105783791A
• 公開（公告）日: 2016-07-20
• 發明（設計）人: 徐永;何學軍;唐志鋒;張丙玉
• 申請（專利權）人: 中國航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所
• 主分類號: G01B11/26
• 分類號: G01B11/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種精密小角度測量裝置，其特征在于，包括平板(1)、懸臂梁(2) 及轉動機構(3)、微調機構(4)及傳感裝置(6)、數顯箱(5)；轉動機構 (3)、微調機構(4)、傳感裝置(6)和數顯箱(5)固定安裝于平板(1) 上，懸臂梁(2)一端固定安裝于轉動機構(3)，一端置于微調機構(4) 上，傳感裝置(6)位于微調機構(4)上方，可以測量懸臂梁(2)一端升 降的高度，并將高度值傳送給數顯箱(5)，由數顯箱(5)根據懸臂梁(2) 一端升降的高度和懸臂梁(2)有效長度計算并顯示角度值；

平板(1)用于安裝固定懸臂梁(2)及轉動機構(3)、微調機構(4) 及傳感裝置(6)、數顯箱(5)，測量過程中用于放置被測儀器；

懸臂梁(2)用于提供測量過程中的升降高度H和有效長度L，以及被 測水平儀放置的研磨平臺；

轉動機構(3)用于提供懸臂梁(2)在工作過程中一端的轉動支撐；

微調機構(4)用于提供懸臂梁(2)在工作過程中另一端的升降以實 現其微小角度變化；

傳感裝置(6)用于測量懸臂梁(2)在工作過程中升降的位移量H， 并將之傳送到數顯箱(5)；

數顯箱(5)用于對接收的位移量H，根據懸臂梁(2)的有效長度L， 按照公式α＝asin(H/L)進行計算得到角度值α并顯示；

工作過程：將被測的水平儀放置在懸臂梁(2)上并調整好位置，轉動 微調機構(4)，實現懸臂梁(2)一端繞另一端抬起或降低H，H值通過傳 感裝置(6)測量并傳送給數顯箱(5)，數顯箱(5)依據公式α＝asin(H/L) 計算出角度變化量α并顯示。

2.根據權利要求1所述的一種精密小角度測量裝置，其特征在于，為 了擴大校準范圍，所述懸臂梁(2)上還帶有反射鏡(21)，用于自準直儀 的校準。

3.根據權利要求2所述的一種精密小角度測量裝置，其特征在于，所 述反射鏡(21)可以在豎直方向上上下移動，以適應不同型號的自準直儀 的校準。

4.根據權利要求1所述的一種精密小角度測量裝置，其特征在于，所 述轉動機構(3)包括V型槽(33)、芯軸(31)和限位塊(32)，芯軸(31) 置于V型槽(33)上，可自由轉動，兩端通過限位塊(32)限定，使其不 發生軸向位移。

5.根據權利要求1所述的一種精密小角度測量裝置，其特征在于，所 述懸臂梁(2)為L型結構，其上端設有研磨平臺(22)，研磨平臺(22) 安裝有2個V型限位塊，用于安裝固定被測水平儀。

6.根據權利要求1-5任一所述的一種精密小角度測量裝置，其特征在 于，為了使所述懸臂梁(2)與所述微調機構(4)始終緊密接觸，增強本 裝置的靈敏度，在所述懸臂梁(2)與所述微調機構(4)接觸的一端，通 過拉簧(42)將所述懸臂梁(2)緊壓于所述微調機構(4)上。