[發明專利]電阻點焊質量影響因素辨識方法與系統

有效

• 申請號: 201610301697.5
• 申請日: 2016-05-06
• 公開（公告）號: CN105750754B
• 公開（公告）日: 2018-01-16
• 發明（設計）人: 黃增好;曹彪;李海波;楊凱
• 申請（專利權）人: 廣州市精源電子設備有限公司;華南理工大學
• 主分類號: B23K31/12
• 分類號: B23K31/12;B23K11/11;B23K101/18;B23K103/04
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司44224
• 代理人: 周清華

1.一種電阻點焊質量影響因素辨識方法，其特征在于，包括步驟：

在恒定電流控制模式下，分別獲取電阻點焊在不同的預設影響因素條件下的點焊過程信息；所述不同的預設影響因素條件包括分流、電極磨損、表面玷污、焊件翹曲以及小邊距焊接，所述點焊過程信息包括電極電壓、動態電阻以及電極位移；

對所述不同的預設影響因素條件下的點焊過程信息進行特征參數表征，分別獲取所述不同的預設影響因素條件下的特征參數變化規律，生成辨識判據；

實時獲取電阻點焊過程動態信息，提取特征參數；

根據提取的所述特征參數以及所述辨識判據對電阻點焊質量影響因素進行辨識；

所述對所述不同的預設影響因素條件下的點焊過程信息進行特征參數表征的步驟包括：

以電壓峰值以及電壓峰值時刻對所述不同的預設影響因素條件下的電極電壓進行特征參數表征；

以動態電阻的下降斜率對所述不同的預設影響因素條件下的動態電阻進行特征參數表征；

以電極位移起始點以及預設時間后位移達到另一點時的平均斜率對所述不同的預設影響因素條件下的電極位移進行特征參數表征。

2.根據權利要求1所述的電阻點焊質量影響因素辨識方法，其特征在于，所述在恒定電流控制模式下，分別獲取電阻點焊在不同的預設影響因素條件下的點焊過程信息的步驟包括：

在恒定電流控制模式下，獲取焊件在分流條件下的點焊過程信息，包括：改變分流條件，保持其它所述不同影響因素條件不變，對所述焊件正常焊接第一焊點，并與所述第一焊點間隔不同距離分別焊接多個第二焊點，采集焊接過程中的點焊過程信息；

在恒定電流控制模式下，獲取電阻點焊在電極磨損條件下的點焊過程信息，包括：改變電極磨損條件，保持其它所述不同影響因素條件不變，選取多個不同電極直徑的電極對所述焊件進行焊接，采集焊接過程中的點焊過程信息；

在恒定電流控制模式下，獲取所述焊件在表面玷污條件下的點焊過程信息，包括：改變表面玷污條件，保持其它所述不同影響因素條件不變，分別在所述焊件表面存在玷污物和在所述焊件表面不存在玷污物情況進行焊接，采集焊接過程中的點焊過程信息；

在恒定電流控制模式下，獲取所述焊件在焊件翹曲條件下的點焊過程信息，包括：改變焊件翹曲條件，保持其它所述不同影響因素條件不變，分別對不同彎折角度的所述焊件進行焊接，采集焊接過程中的點焊過程信息；

在恒定電流控制模式下，獲取所述焊件在小邊距焊接條件下的點焊過程信息，包括：改變小邊距焊接條件，保持其它所述不同影響因素條件不變，分別距離所述焊件邊緣不同距離的位置進行焊接，采集焊接過程中的點焊過程信息。

3.根據權利要求1所述的電阻點焊質量影響因素辨識方法，其特征在于，所述辨識判據包括：

若電壓峰值小于正常焊接時的峰值，電壓峰值時刻超前于正常焊接，同時電極位移平均斜率小于正常焊接平均斜率值，且動態電阻初始下降斜率與正常焊接下降斜率值相差小于預設斜率閾值時，判定電阻點焊質量影響因素為分流；

若電壓峰值小于正常焊接時的峰值，峰值時刻超前于正常焊接，同時電極位移平均斜率小于正常焊接平均斜率值，且動態電阻初始下降斜率與正常焊接下降斜率值相差大于或等于所述預設斜率閾值時，判定電阻點焊質量影響因素為電極磨損；

若電壓峰值大于正常時峰值，峰值時刻超前于正常焊接，同時電極位移平均斜率大于正常焊接平均斜率值，且動態電阻初始下降斜率與正常焊接下降斜率值相差小于所述預設斜率閾值時，判定電阻點焊質量影響因素為表面玷污；

若電壓峰值大于正常時峰值，峰值時刻滯后于正常焊接，電極位移平均斜率大于正常焊接平均斜率值，且動態電阻初始下降斜率與正常焊接下降斜率值相差大于或等于所述預設斜率閾值時，判定電阻點焊質量影響因素為表面翹曲；

若電壓峰值大于正常時峰值，峰值時刻超前于正常焊接，電極位移平均斜率大于正常焊接平均斜率值，且動態電阻初始下降斜率與正常焊接下降斜率值相差小于所述預設斜率閾值時，判定電阻點焊質量影響因素為小邊距焊接。