[發(fā)明專利]基于最小二乘旋轉(zhuǎn)匹配的干涉標準件誤差分離方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610300921.9 | 申請日： | 2016-05-09 |
| 公開（公告）號： | CN106017306B | 公開（公告）日： | 2018-07-06 |
| 發(fā)明（設計）人： | 沈華;高金銘;矯苛蓉;孫越;朱日宏;李嘉;王念;謝馨 | 申請（專利權）人： | 南京理工大學 |
| 主分類號： | G01B9/02 | 分類號： | G01B9/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 南京理工大學專利中心 32203 | 代理人： | 朱沉雁 |
| 地址： | 210094 江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 標準件 仿真系統(tǒng) 干涉 長焦 三維光線追跡 空間姿態(tài) 誤差分離 匹配 透鏡 面形偏差 最小二乘 最小二乘原理 干涉儀測試 高精度測量 干涉測試 光學理論 匹配問題 透鏡測量 透鏡測試 誤差信息 系統(tǒng)構建 矢量 干涉儀 輸出波 透射波 零位 引入 檢測 | ||
【權利要求書】：
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