[發(fā)明專利]面板檢測(cè)單元、陣列基板及液晶顯示裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610298412.7
• 申請(qǐng)日: 2016-05-06
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105759472A
• 公開(kāi)（公告）日: 2016-07-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 甘啟明
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種液晶顯示器技術(shù)，特別涉及一種面板檢測(cè)單元、一種包含該面板檢測(cè)單元的陣列基板以及一種包含該面板陣列基板的液晶顯示裝置。

背景技術(shù)

薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)的主體結(jié)構(gòu)包括液晶面板和背光模組，液晶面板包括陣列基板、彩膜基板以及設(shè)置在其間的液晶盒。

在顯示器的制作過(guò)程中，LCD光板在綁定IC前，需要對(duì)液晶盒進(jìn)行點(diǎn)燈檢測(cè)，篩選出不良產(chǎn)品，防止其進(jìn)入下一步的工序，以減少后續(xù)制程的浪費(fèi)。陣列基板上設(shè)置有與單色數(shù)據(jù)線一一對(duì)應(yīng)的信號(hào)線，液晶盒檢測(cè)(celltest)時(shí)，通過(guò)與每條信號(hào)線對(duì)應(yīng)的引針/引線(pin)輸入檢測(cè)信號(hào)，檢測(cè)信號(hào)相同的信號(hào)線與同一條短路線短接。

現(xiàn)有技術(shù)中，在RGB液晶顯示器加工工藝中的面板檢測(cè)單元，如圖1所示，一般包括三條(R/G/B)短路線(shortingbar)111、112、113，分別通過(guò)引線連接至三條像素信號(hào)線211、212、213，在液晶盒檢測(cè)(celltest)階段用來(lái)點(diǎn)亮白色/純紅/純綠/純藍(lán)畫面，以檢查面板的顯示質(zhì)量，從而判斷像素信號(hào)線是否有斷路或缺陷，在完成測(cè)試后，利用激光切斷該短路線(測(cè)試線)與信號(hào)線的連接(lasercut)。

由于通過(guò)上述液晶顯示面板的測(cè)試線路在檢測(cè)液晶顯示面板之后，需利用激光來(lái)切斷測(cè)試線，因而必須有一道激光切割的制程。制程較多，就會(huì)降低液晶顯示面板的生產(chǎn)效率；激光切割過(guò)程中有可能切壞面板，從而影響產(chǎn)品的良率；而生產(chǎn)效率的降低、產(chǎn)品良率降低都會(huì)提高液晶面板的生產(chǎn)成本。因此，在生產(chǎn)實(shí)踐中，如何能盡可能地減少工藝中的制程，從而提高生產(chǎn)效率和降低生產(chǎn)成本是每個(gè)研發(fā)人員必須要考慮的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于，解決現(xiàn)有的液晶顯示器生產(chǎn)工藝中所存在的制程較多、生產(chǎn)效率較低、生產(chǎn)成本較高等技術(shù)問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種面板檢測(cè)單元，包括：至少一短路線組，每一短路線組包括至少一短路線；至少一信號(hào)線組，每一信號(hào)線組包括至少一信號(hào)線；其中，任一信號(hào)線通過(guò)一二極管連接至與該信號(hào)線相應(yīng)的一短路線。所述短路線組包括至少一第一短路線組和/或至少一第二短路線組；所述信號(hào)線組包括至少一第一信號(hào)線組和/或至少一第二信號(hào)線組。

進(jìn)一步地，所述第一短路線組包括一第一短路線、一第二短路線以及一第三短路線。所述第一信號(hào)線組包括：一R像素信號(hào)線，通過(guò)一二極管連接至所述第一短路線；該二極管正極連接至第一短路線，其負(fù)極連接至所述R像素信號(hào)線；一G像素信號(hào)線，通過(guò)一二極管連接至所述第二短路線；該二極管正極連接至第二短路線，其負(fù)極連接至所述G像素信號(hào)線；以及一B像素信號(hào)線，通過(guò)一二極管連接至所述第三短路線；該二極管正極連接至第三短路線，其負(fù)極連接至所述B像素信號(hào)線。

進(jìn)一步地，所述第二短路線組包括一第四短路線以及一第五短路線。所述第二信號(hào)線組包括：一Odd信號(hào)線，通過(guò)一二極管連接至所述第四短路線；該二極管正極連接至所述第四短路線，其負(fù)極連接至所述Odd信號(hào)線；以及一Even信號(hào)線，通過(guò)一二極管連接至所述第五短路線；該二極管正極連接至所述第五短路線，其負(fù)極連接至所述Even信號(hào)線。

進(jìn)一步地，所述二極管為肖特基二極管。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種陣列基板，包括：一顯示區(qū)，其內(nèi)設(shè)有液晶以及至少一數(shù)據(jù)線組；以及一非顯示區(qū)，設(shè)置于所述顯示區(qū)周圍，其內(nèi)設(shè)有至少一上述的面板檢測(cè)單元。所述數(shù)據(jù)線組包括：一R像素?cái)?shù)據(jù)線，連接至所述R像素信號(hào)線；一G像素?cái)?shù)據(jù)線，連接至所述G像素信號(hào)線；一B像素?cái)?shù)據(jù)線，連接至所述B像素信號(hào)線；一Odd數(shù)據(jù)線，連接至所述Odd信號(hào)線；以及一Even數(shù)據(jù)線，連接至所述Even信號(hào)線。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種液晶顯示裝置，包括上述的陣列基板。

本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于，本發(fā)明提出一種新的技術(shù)方案，在信號(hào)線與短路線(測(cè)試線)之間安裝一個(gè)單向?qū)ǖ亩O管，在完成測(cè)試后，無(wú)需再進(jìn)行激光切割的制程，直接可以進(jìn)行下一步的加工處理，從而減少加工成本，提高生產(chǎn)效率。

附圖說(shuō)明

圖1所示為現(xiàn)有技術(shù)中一RGB面板檢測(cè)單元的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2所示為本發(fā)明一實(shí)施例中面板檢測(cè)單元的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3所示為本發(fā)明一實(shí)施例中一陣列基板的整體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4所示為圖3中第一短路線組與像素?cái)?shù)據(jù)線組的局部放大圖；

圖5所示為圖3中第二短路線組與奇偶數(shù)據(jù)線組的局部放大圖；

圖6所示為本發(fā)明一實(shí)施例中一液晶顯示裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。