[發(fā)明專利]一種短路微帶線法測(cè)試薄膜復(fù)數(shù)磁導(dǎo)率的裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610297281.0 | 申請(qǐng)日： | 2016-05-06 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN105807240B | 公開（公告）日： | 2018-07-27 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 周佩珩;羅小嘉;王昕;謝建良;鄧龍江 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 電子科技大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | G01R33/12 | 分類號(hào)： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 電子科技大學(xué)專利中心 51203 | 代理人： | 吳姍霖 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 國(guó)省代碼： | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 短路 微帶 測(cè)試 薄膜 復(fù)數(shù) 磁導(dǎo)率 裝置 | ||
【說明書】：
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