[發明專利]一種用于對OPGW絕緣子串進行污穢閃絡測試的方法及系統在審
| 申請號： | 201610294902.X | 申請日： | 2016-05-05 |
| 公開（公告）號： | CN105866642A | 公開（公告）日： | 2016-08-17 |
| 發明（設計）人： | 姚修遠;于昕哲;周軍;張曄;張學軍;徐躍能 | 申請（專利權）人： | 中國電力科學研究院;國家電網公司;國網四川省電力公司 |
| 主分類號： | G01R31/12 | 分類號： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 北京工信聯合知識產權代理事務所(普通合伙) 11266 | 代理人： | 方艷輝 |
| 地址： | 100192 北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 opgw 絕緣子 進行 污穢 測試 方法 系統 | ||
【說明書】：
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