[發(fā)明專利]一種基于甚低頻/低頻三維全閃電探測(cè)定位系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610290984.0 | 申請(qǐng)日： | 2016-05-05 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN105974207A | 公開(kāi)（公告）日： | 2016-09-28 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 肖芳;馬啟明;苑尚博;周曉;宋佳軍 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中國(guó)科學(xué)院電工研究所 |
| 主分類號(hào)： | G01R29/08 | 分類號(hào)： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京科迪生專利代理有限責(zé)任公司 11251 | 代理人： | 關(guān)玲 |
| 地址： | 100190 *** | 國(guó)省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū)： | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū)： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基于 甚低頻 低頻 三維 閃電 探測(cè) 定位 系統(tǒng) | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)科學(xué)院電工研究所，未經(jīng)中國(guó)科學(xué)院電工研究所許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610290984.0/1.html，轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量，如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量，即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商；峰值因數(shù)的測(cè)量，即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量，如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量，即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商；峰值因數(shù)的測(cè)量，即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
- 一種三維彩色物品制作方法
- 三維內(nèi)容顯示的方法、裝置和系統(tǒng)
- 三維對(duì)象搜索方法、裝置及系統(tǒng)
- 三維會(huì)話數(shù)據(jù)展示方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)設(shè)備
- 一種三維模型處理方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 用于基于分布式賬本技術(shù)的三維打印的去中心化供應(yīng)鏈
- 標(biāo)記數(shù)據(jù)的獲取方法及裝置、訓(xùn)練方法及裝置、醫(yī)療設(shè)備
- 一種基于5G網(wǎng)絡(luò)的光場(chǎng)三維浸入式體驗(yàn)信息傳輸方法及系統(tǒng)
- 用于機(jī)器人生產(chǎn)系統(tǒng)仿真的三維場(chǎng)景管理與文件存儲(chǔ)方法
- 基于三維形狀知識(shí)圖譜的三維模型檢索方法及裝置
