[發(fā)明專利]測試單元及虛設(shè)單元包含于集成電路的布線內(nèi)的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610289712.9 | 申請日： | 2016-05-04 |
| 公開（公告）號： | CN106409815B | 公開（公告）日： | 2019-03-15 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 圭多·巫貝爾彼特;P·阿克曼;寧國祥;J-H·馮;C·T·林 | 申請（專利權(quán)）人： | 格羅方德半導(dǎo)體公司 |
| 主分類號： | H01L23/544 | 分類號： | H01L23/544;H01L21/66;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京戈程知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11314 | 代理人： | 程偉;王錦陽 |
| 地址： | 英屬開曼群*** | 國省代碼： | 開曼群島;KY |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試 單元 虛設(shè) 包含 集成電路 布線 方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于格羅方德半導(dǎo)體公司，未經(jīng)格羅方德半導(dǎo)體公司許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610289712.9/2.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇：半導(dǎo)體裝置及其制造方法
- 下一篇：半導(dǎo)體裝置
