[發(fā)明專利]一種拼接望遠(yuǎn)鏡共相位控制裝置及控制方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610288401.0 | 申請(qǐng)日: | 2016-05-03 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105700128B | 公開(公告)日: | 2018-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 顏召軍;陳欣揚(yáng);朱能鴻 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海天文臺(tái) |
| 主分類號(hào): | G02B26/06 | 分類號(hào): | G02B26/06;G02B17/08;G02B23/02;G02B27/10 |
| 代理公司: | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人: | 鄧琪;楊希 |
| 地址: | 200030*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 分光束 望遠(yuǎn)鏡 拼接 波前探測(cè)器 控制裝置 拼接子鏡 平移誤差 分束器 探測(cè)器 探測(cè) 波前控制器 驅(qū)動(dòng)器連接 平移 波前畸變 補(bǔ)償校正 出射光線 傳輸路徑 干涉條紋 高階像差 實(shí)時(shí)探測(cè) 同類系統(tǒng) 系統(tǒng)像差 像差數(shù)據(jù) 有效實(shí)現(xiàn) 可變形 實(shí)時(shí)性 次鏡 色散 采集 | ||
1.一種拼接望遠(yuǎn)鏡共相位控制方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
步驟S1,利用拼接望遠(yuǎn)鏡將外圍的入射光線轉(zhuǎn)變?yōu)槠叫械某錾涔饩€,其中,所述拼接望遠(yuǎn)鏡包括帶有驅(qū)動(dòng)器的分離可變形次鏡以及若干個(gè)拼接子鏡;
步驟S2,利用第一分束器將所述出射光線分成第一分光束和第二分光束;
步驟S3,利用波前探測(cè)器探測(cè)所述第一分光束,并向波前控制器輸出各所述拼接子鏡傳輸路徑上的系統(tǒng)像差數(shù)據(jù)以及波前畸變像差數(shù)據(jù);利用所述波前控制器根據(jù)各所述拼接子鏡傳輸路徑上的系統(tǒng)像差數(shù)據(jù)以及波前畸變像差數(shù)據(jù),向所述分離可變形次鏡的驅(qū)動(dòng)器輸出第一驅(qū)動(dòng)電壓,以驅(qū)動(dòng)所述分離可變形次鏡產(chǎn)生相應(yīng)的形變以對(duì)各所述拼接子鏡傳輸路徑上的系統(tǒng)像差以及波前畸變像差進(jìn)行補(bǔ)償校正;
步驟S4,利用第二分束器將所述第二分光束分成第三分光束和第四分光束;以及
步驟S5,利用平移誤差探測(cè)器探測(cè)所述第三分光束,并向所述波前控制器輸出各對(duì)所述拼接子鏡之間的色散干涉條紋;利用所述波前控制器根據(jù)各對(duì)所述拼接子鏡之間的色散干涉條紋,計(jì)算獲得各對(duì)所述拼接子鏡之間的相位平移誤差,并根據(jù)各對(duì)所述拼接子鏡之間的相位平移誤差,向所述分離可變形次鏡的驅(qū)動(dòng)器輸出第二驅(qū)動(dòng)電壓,以驅(qū)動(dòng)所述分離可變形次鏡產(chǎn)生平移以對(duì)各對(duì)所述拼接子鏡之間的相位平移誤差進(jìn)行補(bǔ)償校正;
在所述步驟S5中,計(jì)算獲得各對(duì)所述拼接子鏡之間的相位平移誤差的步驟包括:
步驟S51,利用所述波前控制器根據(jù)一對(duì)所述拼接子鏡之間的一條二維的色散干涉條紋,建立以色散方向?yàn)閤軸,該對(duì)拼接子鏡的基線方向?yàn)閥軸的坐標(biāo)系,該條色散干涉條紋包括若干條沿y軸方向的一維子條紋,標(biāo)定各條一維子條紋的波長與橫坐標(biāo)的關(guān)系λ(x);
步驟S52,計(jì)算各條一維子條紋的波長所對(duì)應(yīng)的第一峰值強(qiáng)度I1(λ)及第一峰值位置y1(λ)、第二峰值強(qiáng)度I2(λ)及第二峰值位置y2(λ);
步驟S53,根據(jù)公式(1)計(jì)算各條一維子條紋的波長所對(duì)應(yīng)的含有平移誤差正負(fù)信息的峰值比R,
R=I2(λ)/I1(λ)·sign[y1(λ)-y2(λ)] (1),
其中,sign[]為符號(hào)函數(shù);
步驟S54,根據(jù)公式(2)計(jì)算各條一維子條紋的波長所對(duì)應(yīng)的小數(shù)光程差Δm,
其中,an為擬合系數(shù);
步驟S55,在該條色散干涉條紋中選擇N對(duì)一維子條紋,每對(duì)一維子條紋所對(duì)應(yīng)的波長為λi、λj,且波長λi與波長λj的差值的絕對(duì)值為波長帶寬的三分之一至二分之一;根據(jù)公式(3)計(jì)算每對(duì)一維子條紋的波長λi、λj所對(duì)應(yīng)的一對(duì)所述拼接子鏡之間的光程差δij,
其中,Δij為波長λi與波長λj之間的干涉級(jí)數(shù)差,Δmi為波長λi所對(duì)應(yīng)的小數(shù)光程差,Δmj為波長λj所對(duì)應(yīng)的小數(shù)光程差;
步驟S56,根據(jù)公式(4)計(jì)算一對(duì)所述拼接子鏡之間的平均光程差δ,以作為該對(duì)拼接子鏡之間的相位平移誤差,
δ=∑δij/N (4);
步驟S57,重復(fù)執(zhí)行所述步驟S51-S56,直至計(jì)算獲得所有對(duì)所述拼接子鏡之間的相位平移誤差。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的拼接望遠(yuǎn)鏡共相位控制方法,其特征在于,所述平移誤差探測(cè)器包括:依次排列的光闌模塊、濾光片元件、色散模塊、消色差透鏡以及科學(xué)級(jí)相機(jī),其中,所述光闌模塊接收所述第三分光束,所述科學(xué)級(jí)相機(jī)采集所述拼接子鏡之間的色散干涉條紋。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的拼接望遠(yuǎn)鏡共相位控制方法,其特征在于,所述色散模塊為棱鏡、光柵或棱柵。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院上海天文臺(tái),未經(jīng)中國科學(xué)院上海天文臺(tái)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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