[發明專利]一種改善LED芯片測試針痕的方法有效
| 申請號： | 201610280258.0 | 申請日： | 2016-04-28 |
| 公開（公告）號： | CN105823974B | 公開（公告）日： | 2018-08-17 |
| 發明（設計）人： | 王彥麗;王友志;徐現剛 | 申請（專利權）人： | 山東浪潮華光光電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26;B24B19/16;G01B5/08 |
| 代理公司： | 濟南日新專利代理事務所 37224 | 代理人： | 王書剛 |
| 地址： | 261061 *** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 改善 led 芯片 測試 方法 | ||
【說明書】：
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