[發明專利]模擬信號檢測系統和模擬信號檢測方法有效
| 申請號: | 201610274375.6 | 申請日: | 2016-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN107340466B | 公開(公告)日: | 2019-11-01 |
| 發明(設計)人: | 黃正乙;楊家奇;黃正太;王克濤;鄭榮樂 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/3167 | 分類號: | G01R31/3167 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 張振軍;吳敏 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 模擬 信號 檢測 系統 方法 | ||
一種模擬信號檢測系統和模擬信號檢測方法,模擬信號檢測系統適于對多路輸入模擬信號的幅度進行檢測,包括:多路信號選擇電路,在第一和第二地址信號的作用下,從輸入模擬信號中選擇出兩路模擬信號;比較電路,對兩路模擬信號進行比較,輸出第一比較結果;邏輯運算單元,生成第一和第二地址信號,根據第一比較結果對至少兩路輸入模擬信號進行排序;被測信號選擇電路,在第三地址信號的作用下,在多路輸入模擬信號中選擇被測信號;參考電壓切換電路,在第四地址信號的作用下,輸出多檔參考電壓中的一檔;邏輯運算單元還根據排序得到的排序結果生成第三和第四地址信號,得到輸入模擬信號的幅度。本發明可縮短模擬信號檢測時間,降低檢測系統復雜度。
技術領域
本發明涉及信號檢測技術,特別涉及一種模擬信號檢測系統和模擬信號檢測方法。
背景技術
在集成電路中,隨著工藝尺寸的不斷縮小,芯片上面集成的電路越來越多,功能也變得越來越復雜,芯片測試所需要的輸入/輸出端口(Input/Output,I/O)也會隨之增加,而各輸入/輸出端口之間有嚴格的尺寸限制,且數目非常有限,這將給芯片測試造成很大困難。
現有的模擬信號幅度檢測一般通過將模擬信號接到輸入/輸出端口直接進行測量,但是隨著電路復雜度的增加,輸入/輸出端口的需求數量越來越大,測試時間將隨著信號數目的增加而增加,同時增加了測試操作的復雜性,也會給測試的準確性造成影響。現有技術運用多路復用器(Multiplexer,MUX)選擇待測信號并逐個利用模數轉換器(Analog toDigital Converter,DAC)進行測量,測量結果以數字的方式存儲,其中,在信號檢測時所需的參考電壓可以由數模轉換器(Digital to Analog Converter,DAC)提供。
因此,現有技術中的模擬信號檢測系統面臨著的測試時間長,檢測系統與方法較為復雜。
發明內容
本發明解決的技術問題是縮短模擬信號的檢測時間,同時降低模擬信號檢測系統的復雜度。
為解決上述技術問題,本發明實施例提供一種模擬信號檢測系統,適于對至少兩路輸入模擬信號的幅度進行檢測,模擬信號檢測系統包括:
多路信號選擇電路,其輸入端輸入有所述輸入模擬信號,適于在第一地址信號和第二地址信號的作用下,從所述輸入模擬信號中選擇出兩路模擬信號分別輸出至所述多路信號選擇電路的第一輸出端和第二輸出端;
比較電路,其第一輸入端和第二輸入端分別耦接所述多路信號選擇電路的第一輸出端和第二輸出端,適于對所述多路信號選擇電路輸出的兩路模擬信號進行比較,并輸出第一比較結果;
邏輯運算單元,適于生成所述第一地址信號和第二地址信號,并根據所述第一比較結果對所述至少兩路輸入模擬信號進行排序,以得到排序結果;
被測信號選擇電路,其輸入端輸入有所述至少兩路輸入模擬信號,適于在第三地址信號的作用下,在所述至少兩路輸入模擬信號中選擇被測信號并經由所述被測信號選擇電路的輸出端輸出;
參考電壓切換電路,適于在第四地址信號的作用下,輸出多檔參考電壓中的一檔并經由所述參考電壓切換電路的輸出端輸出;
其中,所述比較電路的第三輸入端和第四輸入端分別耦接所述被測信號選擇電路的輸出端和所述參考電壓切換電路的輸出端,以比較所述被測信號和所述參考電壓,并輸出第二比較結果;
所述邏輯運算單元還根據所述排序結果生成所述第三地址信號和第四地址信號,以控制所述被測信號選擇電路按照所述排序結果依次從所述至少兩路輸入模擬信號中選擇所述被測信號,并交由所述比較電路進行比較,并根據所述第二比較結果和所述參考電壓得到所述輸入模擬信號的幅度。
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