[發明專利]一種隧穿氧化層鈍化接觸太陽能電池及其制備方法有效
| 申請號: | 201610271978.0 | 申請日: | 2016-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN105762234B | 公開(公告)日: | 2017-12-29 |
| 發明(設計)人: | 葉繼春;高平奇;曾俞衡;韓燦;廖明墩;王丹;于靜 | 申請(專利權)人: | 中國科學院寧波材料技術與工程研究所 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/068;H01L31/0224;H01L31/0216 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司44224 | 代理人: | 鄭小粵 |
| 地址: | 315201 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 氧化 鈍化 接觸 太陽能電池 及其 制備 方法 | ||
1.一種隧穿氧化層鈍化接觸太陽能電池,其中,所述太陽能電池包括硅片、鈍化隧穿層、摻雜薄膜硅層,所述鈍化隧穿層介于所述硅片和所述摻雜薄膜硅層之間,其特征在于,所述摻雜薄膜硅層的摻雜濃度是不均勻的,所述摻雜薄膜硅層鄰近鈍化隧穿層一側的摻雜濃度小于遠離鈍化隧穿層一側的摻雜濃度;
其中,所述摻雜薄膜硅層經過高溫退火處理成為磷摻雜n型多晶硅層;
所述高溫處理溫度為750~950℃;
所述硅片為晶體硅;
所述鈍化隧穿層為氧化硅層。
2.根據權利要求1所述的太陽能電池,其特征在于所述摻雜薄膜硅層的摻雜濃度是梯度變化的,所述摻雜薄膜硅層的摻雜濃度從鄰近鈍化隧穿層一側向遠離鈍化隧穿層一側梯度遞增。
3.根據權利要求1所述的太陽能電池,其特征在于所述硅片為n型硅片,所述摻雜薄膜硅層為磷摻雜n型薄膜硅層,所述磷摻雜n型薄膜硅層鄰近所述鈍化隧穿層一側2nm深度范圍內的磷摻雜濃度為0~1e16cm-3。
4.根據權利要求3所述的太陽能電池,其特征在于所述磷摻雜n型薄膜硅層遠離所述鈍化隧穿層一側2nm深度范圍內的磷摻雜濃度為1e19~1e22cm-3。
5.根據權利要求1至4任一項所述的太陽能電池,其特征在于所述摻雜薄膜硅層的厚度為1-80nm。
6.一種如權利要求1至5任意一項所述的隧穿氧化層鈍化接觸太陽能電池的制備方法,所述太陽能電池包括硅片、鈍化隧穿層、摻雜薄膜硅層,所述鈍化隧穿層位于所述硅片和所述摻雜薄膜硅層之間,其特征在于,所述摻雜薄膜硅層的制備方法包括以下步驟:在鈍化隧穿層遠離硅片的一側生成2層以上摻雜濃度不同的摻雜薄膜硅層,所述2層以上摻雜濃度不同的摻雜薄膜硅層鄰近鈍化隧穿層的摻雜濃度低于遠離鈍化隧穿層的摻雜濃度,之后將得到的產品進行退火處理,得到摻雜濃度不均勻的摻雜薄膜硅層,所述摻雜薄膜硅層為磷摻雜n型多晶硅層。
7.根據權利要求6所述的制備方法,其特征在于所述2層以上摻雜濃度不同的摻雜薄膜硅層的層數是2~5。
8.一種如權利要求1至5任意一項所述的隧穿氧化層鈍化接觸太陽能電池的制備方法,所述太陽能電池包括硅片、鈍化隧穿層、摻雜薄膜硅層,所述鈍化隧穿層位于所述硅片和所述摻雜薄膜硅層之間,其特征在于,所述摻雜薄膜硅層的制備方法包括以下步驟:在鈍化隧穿層遠離硅片的一側通過化學氣相沉積法制備摻雜薄膜硅層,通過控制通入的反應氣體的流量以及比例實現制備的摻雜薄膜硅層中摻雜濃度的不均勻,所述摻雜薄膜硅層鄰近鈍化隧穿層一側的摻雜濃度小于遠離鈍化隧穿層一側的摻雜濃度,之后將得到的產品進行退火處理,得到摻雜濃度不均勻的摻雜薄膜硅層,所述摻雜薄膜硅層磷摻雜n型多晶硅層。
9.根據權利要求8所述的制備方法,其特征在于所述反應氣體為硅烷和磷烷,所述硅烷和磷烷的流量比SiH4:PH3=1:0.5~1:0.01。
10.根據權利要求9所述的制備方法,其特征在于所述反應氣體通過氫氣稀釋,所述硅烷和氫氣的流量比SiH4:H2=1:0.1~1:200。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院寧波材料技術與工程研究所,未經中國科學院寧波材料技術與工程研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610271978.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





