[發明專利]多次反射長光程高溫樣品室的激光氣體檢測平臺在審
| 申請號: | 201610271322.9 | 申請日: | 2016-04-28 |
| 公開(公告)號: | CN105758803A | 公開(公告)日: | 2016-07-13 |
| 發明(設計)人: | 呂媛媛;汪冰冰;劉禎;李潘;陳聰;司濤;逯悅;田健 | 申請(專利權)人: | 中鋼集團武漢安全環保研究院有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/03 | 分類號: | G01N21/03;G01N21/31 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 張大威 |
| 地址: | 430081 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 多次 反射 光程 高溫 樣品 激光 氣體 檢測 平臺 | ||
1.多次反射長光程高溫樣品室的氣體檢測平臺,其特征在于:包括
平臺底座(22);
樣品室殼體(11),所述樣品室殼體(11)設置在所述平臺底座(22)上,樣品室殼體(11)的一側的側壁上方設置有氣體入口(9),樣品室殼體(11)的另一側的側壁上方設置有氣體出口(13),樣品室殼體(11)的兩端分別設有入射窗口(7)和出射窗口(15);所述樣品室殼體(11)的左端上部設有通光孔(23);所述樣品室殼體(11)的右端下部設有通光孔(24);
光路調整裝置(1),所述光路調整裝置(1)設置在所述平臺底座(22)上,所述樣品室殼體(11)的左端外側;
接收裝置安裝座(21),所述接收裝置安裝座(21)設置在所述平臺底座(22)上,所述樣品室殼體(11)的右端外側;
激光發射裝置(2),所述激光發射裝置(2)安裝在通光孔(23)外側的光路調整裝置(1)上,激光發射裝置(2)為發射光線的起始端;
激光接收裝置(20),所述激光接收裝置(20)安裝在通光孔(24)外側的接收裝置安裝座(21)上,激光接收裝置(20)為發射光線的末端;
共軛激光反射裝置,所述共軛激光反射裝置由兩片采用HerriottCell原理的共軛凹面反射鏡構成,包括凹面反射鏡(3)和凹面反射鏡(19),所述凹面反射鏡(3)、凹面反射鏡(19)分別固定在樣品室殼體(11)的兩端;所述凹面反射鏡(3)安裝在凹面反射鏡安裝座(4)上,所述凹面反射鏡(19)安裝在凹面反射鏡安裝座(18)上;
所述凹面反射鏡(3)設置在入射窗口(7)的前面,所述凹面反射鏡(19)設置在出射窗口(15)的后面;
激光發射裝置(2)的發射光線經過入射窗口(7)射入到樣品室殼體(11)的內腔后,經過出射窗口(15),射到凹面反射鏡(19),經反射,光線在兩片共軛凹面反射鏡(3)、凹面反射鏡(19)和入射窗口(7)、出射窗口(15)之間經多次反射,最后由凹面反射鏡(19)的出口射到激光接收裝置(20)上。
2.根據權利要求1所述的多次反射長光程高溫樣品室的氣體檢測平臺,其特征在于:所述樣品室殼體(11)上還設有加溫裝置、溫控裝置(26)、壓力傳感裝置(12)。
3.根據權利要求1所述的多次反射長光程高溫樣品室的氣體檢測平臺,其特征在于:入射窗口(7)和出射窗口(15)為偏向角為2°~10°的涂鍍增透膜的楔形鏡片。
4.根據權利要求1所述的多次反射長光程高溫樣品室的氣體檢測平臺,其特征在于:激光發射裝置(2)由半導體激光器和激光準直透鏡構成。
5.根據權利要求1所述的多次反射長光程高溫樣品室的氣體檢測平臺,其特征在于:激光接收裝置(20)由光電探測器構成。
6.根據權利要求1所述的多次反射長光程高溫樣品室的氣體檢測平臺,其特征在于:凹面反射鏡(3)和入射窗口(7)之間設有隔熱塊(5)、凹面反射鏡(19)和出射窗口(15)之間設有隔熱塊(17);隔熱塊(5)、隔熱塊(17)的安裝方式為插入式安裝。
7.根據權利要求1所述的多次反射長光程高溫樣品室的氣體檢測平臺,其特征在于:所述樣品室殼體(11)的兩邊分別設有窗口(27)。
8.根據權利要求1所述的多次反射長光程高溫樣品室的氣體檢測平臺,其特征在于:所述光路調整裝置(1)包括平移安裝座、可調轉接件。
9.根據權利要求2所述的多次反射長光程高溫樣品室的氣體檢測平臺,其特征在于:所述加溫裝置是加熱棒(25),所述加熱棒(25)通過加熱棒壓板(10)固定在所述樣品室殼體(11)上,所述溫控裝置(26)用導熱硅膠固定在所述樣品室殼體(11)上。
10.根據權利要求3所述的多次反射長光程高溫樣品室的氣體檢測平臺,其特征在于:所述入射窗口(7)安裝在楔鏡安裝座(6);所述出射窗口(15)安裝在楔鏡安裝座(16)上。
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