[發明專利]試樣導入裝置和粒徑分布測量裝置在審
| 申請號： | 201610257216.5 | 申請日： | 2016-04-22 |
| 公開（公告）號： | CN106168569A | 公開（公告）日： | 2016-11-30 |
| 發明（設計）人： | 金馬崇;片西章浩 | 申請（專利權）人： | 株式會社堀場制作所 |
| 主分類號： | G01N15/02 | 分類號： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290 | 代理人： | 李雪春;王維玉 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 試樣 導入 裝置 粒徑 分布 測量 | ||
【權利要求書】：
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