[發(fā)明專利]試樣導(dǎo)入裝置和粒徑分布測量裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610257216.5 | 申請日： | 2016-04-22 |
| 公開（公告）號： | CN106168569A | 公開（公告）日： | 2016-11-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 金馬崇;片西章浩 | 申請（專利權(quán)）人： | 株式會社堀場制作所 |
| 主分類號： | G01N15/02 | 分類號： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290 | 代理人： | 李雪春;王維玉 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 試樣 導(dǎo)入 裝置 粒徑 分布 測量 | ||
【權(quán)利要求書】：
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