[發明專利]一種非揮發性存儲器的自測試方法和裝置

有效

• 申請號: 201610255836.5
• 申請日: 2016-04-21
• 公開（公告）號: CN107305789B
• 公開（公告）日: 2020-08-07
• 發明（設計）人: 胡洪
• 申請（專利權）人: 北京兆易創新科技股份有限公司
• 主分類號: G11C29/12
• 分類號: G11C29/12;G11C29/56
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 蘇培華

1.一種非揮發性存儲器的自測試方法，其特征在于，所述非揮發性存儲器包括自測試控制器，所述非揮發性存儲器與測試設備相連，所述自測試方法包括以下步驟：

通過所述非揮發性存儲器接收所述測試設備發送的啟動自測試指令；

啟動所述自測試控制器，確定最大測試次數和所述非揮發性存儲器的各待測試項目；

通過所述自測試控制器根據所述各待測試項目對所述非揮發性存儲器進行測試，直至對所述各待測試項目的測試次數等于所述最大測試次數，或直至任一待測試項目的測試結果為所述非揮發性存儲器失效；

其中，若任一待測試項目的測試結果為所述非揮發性存儲器失效，則通過所述自測試控制器記錄對應的項目失效信息至所述非揮發性存儲器的第一預設存儲空間。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定最大測試次數和所述非揮發性存儲器的各待測試項目，包括：

從所述非揮發性存儲器的第二預設存儲空間獲取所述最大測試次數對應的數據和所述各待測試項目對應的數據；

根據所述最大測試次數對應的數據確定所述最大測試次數，以及根據所述各待測試項目對應的數據確定所述各待測試項目。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定最大測試次數和所述非揮發性存儲器的各待測試項目，包括：

從所述啟動自測試指令獲取所述最大測試次數對應的數據和所述各待測試項目對應的數據；

根據所述最大測試次數對應的數據確定所述最大測試次數，以及根據所述各待測試項目對應的數據確定所述各待測試項目。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述通過所述自測試控制器根據所述各待測試項目對所述非揮發性存儲器進行測試，包括：

當所述待測試項目為擦除操作測試時，通過所述自測試控制器對所述非揮發性存儲器進行擦除操作和校驗，若校驗失敗，則判斷所述待測試項目的測試結果為所述非揮發性存儲器失效；

當所述待測試項目為寫操作測試時，通過所述自測試控制器對所述非揮發性存儲器進行寫操作和校驗，若校驗失敗，則判斷所述待測試項目的測試結果為所述非揮發性存儲器失效。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的方法，其特征在于，還包括：

通過所述非揮發性存儲器接收所述測試設備發送的信息讀取指令；

通過所述非揮發性存儲器發送所述第一預設存儲空間中的信息至所述測試設備。

6.一種非揮發性存儲器的自測試裝置，其特征在于，所述非揮發性存儲器包括自測試控制器，所述非揮發性存儲器與測試設備相連，所述自測試裝置包括：

第一接收模塊，用于通過所述非揮發性存儲器接收所述測試設備發送的啟動自測試指令；

啟動模塊，用于啟動所述自測試控制器，確定最大測試次數和所述非揮發性存儲器的各待測試項目；

測試模塊，用于通過所述自測試控制器根據所述各待測試項目對所述非揮發性存儲器進行測試，直至對所述各待測試項目的測試次數等于所述最大測試次數，或直至任一待測試項目的測試結果為所述非揮發性存儲器失效；

其中，若任一待測試項目的測試結果為所述非揮發性存儲器失效，則所述測試模塊通過所述自測試控制器記錄對應的項目失效信息至所述非揮發性存儲器的第一預設存儲空間。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述啟動模塊包括：

第一數據獲取單元，用于從所述非揮發性存儲器的第二預設存儲空間獲取所述最大測試次數對應的數據和所述各待測試項目對應的數據；

第一參數確定單元，用于根據所述最大測試次數對應的數據確定所述最大測試次數，以及根據所述各待測試項目對應的數據確定所述各待測試項目。

8.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述啟動模塊包括：

第二數據獲取單元，用于從所述啟動自測試指令獲取所述最大測試次數對應的數據和所述各待測試項目對應的數據；

第二參數確定單元，用于根據所述最大測試次數對應的數據確定所述最大測試次數，以及根據所述各待測試項目對應的數據確定所述各待測試項目。