[發(fā)明專利]一種基坑測(cè)斜用紅外測(cè)距裝置及監(jiān)控方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610255342.7 | 申請(qǐng)日： | 2016-04-22 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN105887790A | 公開（公告）日： | 2016-08-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 李榮正;陳學(xué)軍;李慧妍 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 上海工程技術(shù)大學(xué) |
| 主分類號(hào)： | E02D1/00 | 分類號(hào)： | E02D1/00 |
| 代理公司： | 上海兆豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(有限合伙) 31241 | 代理人： | 屠軼凡 |
| 地址： | 201620 *** | 國(guó)省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 基坑 測(cè)斜用 紅外 測(cè)距 裝置 監(jiān)控 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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