[發明專利]空間光調制器缺陷檢測中保護膜損傷的提取方法有效
| 申請號： | 201610252409.1 | 申請日： | 2016-04-21 |
| 公開（公告）號： | CN105913438B | 公開（公告）日： | 2019-11-22 |
| 發明（設計）人： | 范靜濤;戴瓊海;鮑家坤 | 申請（專利權）人： | 清華大學 |
| 主分類號： | G06T7/00 | 分類號： | G06T7/00;G06T5/30 |
| 代理公司： | 11201 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人： | 張大威<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址： | 100084 北京*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 空間 調制器 缺陷 檢測 保護膜 損傷 提取 方法 | ||
【說明書】：
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