[發明專利]CT系統幾何校正效果的檢驗方法及裝置有效
| 申請號: | 201610251571.1 | 申請日: | 2016-04-20 |
| 公開(公告)號: | CN105869130B | 公開(公告)日: | 2018-02-23 |
| 發明(設計)人: | 李翰威;張光彪;詹欣智;黃文記;詹延義 | 申請(專利權)人: | 廣州華端科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;G06T15/20 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司44224 | 代理人: | 王程 |
| 地址: | 510530 廣東省廣州*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | ct 系統 幾何 校正 效果 檢驗 方法 裝置 | ||
1.一種CT系統幾何校正效果的檢驗方法,其特征在于,包括:
掃描預設的校正模體,得到所述校正模體的投影圖像,根據所述校正模體及其投影圖像得出CT系統的幾何校正參數;
掃描預設的評價模體,得到所述評價模體的投影圖像;根據幾何校正參數以及所述評價模體的投影圖像,重建所述評價模體的三維圖像;所述評價模體由正方體和球體組成,所述球體球心和正方體重心重合,且球體半徑小于正方體的內切球體半徑;球體的物質密度不同于正方體的物質密度;
從所述三維圖像中分割出球體的圖像,檢測圖像中的球心位置,獲取球心位置所在圖層作為所述評價模體的待處理圖像,并檢測所述待處理圖像中圓的邊緣;
根據圓的邊緣統計出所述待處理圖像中的圓內點數、圓內點CT值總和、圓外點數以及圓外點CT值總和;
計算圓內點CT均值、圓外點CT均值,得出兩者的差的絕對值,作為評價對應幾何校正參數的幾何校正效果的評價指數;
比較各組幾何校正參數對應的評價指數,根據所述評價指數的大小得出各組幾何校正參數的幾何校正效果的好壞;
所述掃描預設的校正模體,得到所述校正模體的投影圖像,包括:
檢測到所述校正模體位于旋轉中心并且所述校正模體的投影完全在所述CT系統的FOV內,掃描預設的校正模體,使射線源和探測器繞所述校正模體旋轉一周,等間隔采集所述校正模體的投影圖像;
所述掃描預設的評價模體,得到所述評價模體的投影圖像,包括:
檢測到所述評價模體位于旋轉中心并且所述評價模體的投影完全在所述CT系統的FOV內,掃描預設的評價模體,使射線源和探測器繞所述評價模體旋轉一周,等間隔采集所述評價模體的投影圖像;
所述校正模體為:表面等螺距等角度的鑲嵌多個標記點的空心圓柱體。
2.根據權利要求1所述的CT系統幾何校正效果的檢驗方法,其特征在于,所述根據圓的邊緣統計出所述待處理圖像中的圓內點數、圓內點CT值總和、圓外點數以及圓外點CT值總和,包括:
根據圓的邊緣確定出所述待處理圖像中圓的圓心位置和半徑;
識別所述待處理圖像中的圓內點和圓外點,包括:
將滿足條件(xi-a)2+(yi-b)2≤r2的點識別為圓內點,
將滿足條件r2≤(xi-a)2+(yi-b)2≤(r+R)2的點識別為圓外點;
根據識別結果統計出圓內點數、圓內點CT值總和、圓外點數以及圓外點CT值總和;
其中,(xi,yi)為所述待處理圖像中第i個點的坐標,(a,b)為所述待處理圖像中圓的圓心坐標,r為所述待處理圖像中圓的半徑,R為預設的參數,其取值范圍為大于0且小于正方體內切球半徑與球體半徑的差。
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