[發明專利]一種多芯片系統的相位測量方法及裝置有效
| 申請號： | 201610246985.5 | 申請日： | 2016-04-19 |
| 公開（公告）號： | CN105954589B | 公開（公告）日： | 2019-03-22 |
| 發明（設計）人： | 門長有 | 申請（專利權）人： | 杭州萬高科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R25/00 | 分類號： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 羅滿 |
| 地址： | 310053 浙江省杭州市濱江*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 芯片 系統 相位 測量方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于杭州萬高科技股份有限公司，未經杭州萬高科技股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610246985.5/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種雙離合機電控制單元教學檢測試驗臺
- 下一篇：心肺復蘇按壓模型
