[發(fā)明專利]探測系統(tǒng)和方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201610245438.5
• 申請日: 2016-04-19
• 公開（公告）號: CN107305444A
• 公開（公告）日: 2017-10-31
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 施政;萬勇勝
• 申請（專利權(quán)）人: 施政
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/044;G06K7/10
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種探測系統(tǒng)，其特征在于：

包括：

處理器；

觸摸電極，由導(dǎo)電漿料制成，經(jīng)電容耦合模塊連接到所述處理器；

射頻天線，位于所述觸摸電極下一層，經(jīng)射頻探測模塊連接到所述處理器；

被探測物，位于所述觸摸電極上一層，所述被探測物內(nèi)置有射頻識別標簽；

其中，當(dāng)所述被探測物進入所述觸摸電極的探測范圍時，所述處理器經(jīng)所述觸摸電極靠電容耦合作用探測到所述被探測物；所述射頻天線發(fā)出或接收的無線信號，穿過所述導(dǎo)電漿料制成的所述觸摸電極，探測到所述被探測物內(nèi)置的所述射頻識別標簽；所述射頻探測模塊把所述射頻天線探測的信息傳給所述處理器。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng)，其特征在于：

所述導(dǎo)電漿料，是一種碳油墨，經(jīng)印刷涂敷在一個基板上，固化后方阻為40～350Ω/□。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng)，其特征在于：

所述導(dǎo)電漿料制成的多個所述觸摸電極排布成電極陣列；

所述被探測物位于所述電極陣列上一層；

當(dāng)所述被探測物進入所述射頻天線的探測范圍時，所述射頻天線發(fā)出或接收的無線信號，穿過所述導(dǎo)電漿料制成的所述電極陣列，探測到所述被探測物內(nèi)的所述射頻識別標簽。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的探測系統(tǒng)，其特征在于：

所述射頻天線為多個，排布成天線陣列，位于所述電極陣列下一層；

當(dāng)所述被探測物進入所述天線陣列的探測范圍時，所述天線陣列發(fā)出或接收的無線信號，穿過所述導(dǎo)電漿料制成的所述電極陣列，探測到所述被探測物內(nèi)的所述射頻識別標簽。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng)，其特征在于：

在所述射頻天線處于開通、讀取所述被探測物的狀態(tài)下，所述處理器經(jīng)所述觸摸電極靠電容耦合作用探測到所述被探測物。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng)，其特征在于：

在所述觸摸電極處于開通、與所述被探測物進行電容耦合的狀態(tài)下，所述處理器經(jīng)所述射頻天線探測到所述被探測物內(nèi)的所述射頻識別標簽。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的探測系統(tǒng)的探測方法，其特征在于：

包括：

當(dāng)所述被探測物進入所述觸摸電極的探測范圍時，所述處理器經(jīng)所述觸摸電極靠電容耦合作用探測到所述被探測物；

所述射頻天線發(fā)出或接收的無線信號，穿過所述導(dǎo)電漿料制成的所述觸摸電極，探測到所述被探測物內(nèi)置的所述射頻識別標簽；

所述射頻探測模塊把所述射頻天線探測的信息傳給所述處理器。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的探測方法，其特征在于：

當(dāng)所述被探測物進入所述射頻天線的探測范圍時，所述射頻天線發(fā)出或接收的無線信號，穿過電極陣列，探測到所述被探測物內(nèi)的所述射頻識別標簽；

其中，所述電極陣列由所述導(dǎo)電漿料制成的多個所述觸摸電極排布而成；所述被探測物位于所述電極陣列上一層。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的探測方法，其特征在于：

當(dāng)所述被探測物進入所述天線陣列的探測范圍時，所述天線陣列發(fā)出或接 收的無線信號，穿過所述電極陣列，探測到所述被探測物內(nèi)的所述射頻識別標簽；

其中，所述天線陣列由多個射頻天線排布而成，位于所述電極陣列下一層。

10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的探測方法，其特征在于：

在所述射頻天線處于開通、讀取所述被探測物的狀態(tài)下，所述處理器經(jīng)所述觸摸電極靠電容耦合作用探測到所述被探測物。

11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的探測方法，其特征在于：

在所述觸摸電極處于開通、與所述被探測物進行電容耦合的狀態(tài)下，所述處理器經(jīng)所述射頻天線探測到所述被探測物內(nèi)的所述射頻識別標簽。