[發明專利]光網絡終端BOB校準測試系統及其方法

有效

• 申請號: 201610244504.7
• 申請日: 2016-04-19
• 公開（公告）號: CN105790827B
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 余廣興
• 申請（專利權）人: 深圳極智聯合科技股份有限公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07
• 代理公司: 深圳市中原力和專利商標事務所(普通合伙) 44289
• 代理人: 謝芝柏

1.一種光網絡終端BOB校準測試系統，其特征在于，包括數據服務器、PC機、交換機、多個設有BOSA的光網絡單元、光開關及BOB校準測試單元，所述數據服務器、PC機、交換機和光網絡單元依次電連接，所述BOB校準測試單元分別與所述PC機及所述光開關連接，所述光開關與所述光網絡單元通過光纖線連接，所述數據服務器預設有所述光網絡單元的型號及升壓芯片類型，所述型號包括PON型和APD型，通過切換所述光開關選擇所述光網絡單元，由所述BOB校準測試單元根據所述光網絡單元的所述型號對選擇的所述光網絡單元進行BOB校準和測試。

2.根據權利要求1所述的光網絡終端BOB校準測試系統，其特征在于，所述BOB校準測試單元包括與所述光開關連接的波分復用器、與所述波分復用器連接的光功率計、與所述波分復用器連接的光衰減器、與所述光衰減器連接的光分路器以及與所述光分路器連接的誤碼儀，所述光功率計和所述光衰減器分別與所述PC機電連接。

3.一種根據權利要求1所述的光網絡終端BOB校準測試系統的測試方法，其特征在于，包括如下步驟：

切換所述光開關以選擇所述光網絡單元；

從所述數據服務器中導入選擇的所述光網絡單元的型號及升壓芯片類型至所述PC機，所述型號包括PON型和APD型；

判斷所述光網絡單元屬于所述PON型或者所述APD型；

根據所述光網絡單元所屬的所述型號獲取對應的所述光網絡單元的測試標準；

根據所述光網絡單元所屬的所述型號和對應的所述測試標準對所述光網絡單元進行BOB校準測試；

若所述光網絡單元屬于所述PON型，則所述BOB校準測試包括：光功率調節、Tx光功率標定、Rx光功率標定、LOS調節和MOD_MAX修改；

若所述光網絡單元屬于所述APD型，則所述BOB校準測試包括：APD校準、光功率調節、Tx光功率標定、Rx光功率標定、LOS調節和MOD_MAX修改。

4.根據權利要求3所述的光網絡終端BOB校準測試系統的測試方法，其特征在于，所述APD校準包括如下步驟：

從所述數據服務器中讀取所述APD型的所述光網絡單元的擊穿電壓值Vbr和補償偏置值Offset，根據所述APD型的所述光網絡單元的所述升壓芯片類型、擊穿電壓值Vbr和補償偏置值Offset計算初始寄存器值APD_DAC；

調節所述初始寄存器值APD_DAC直到接收的信號強度指示RSSI在預設的標準范圍內；

根據PD算法計算工作電壓VOP；

讀取當前的所述補償偏置值Offset下的溫度，根據當前的溫度從預設的APD查找表中取出對應的所述補償偏置值Offset下的所述初始寄存器值APD_DAC，計算平移系數，其中，所述平移系數為所述工作電壓VOP與所述APD查找表對應的所述初始寄存器值APD_DAC的差值；

根據當前的所述補償偏置值Offset下的預設的APD查找表和所述平移系數進行溫補表溢出判斷，若溫補表溢出，則調節所述補償偏置值Offset。

5.根據權利要求4所述的光網絡終端BOB校準測試系統的測試方法，其特征在于，在根據當前的所述補償偏置值Offset下的所述APD查找表和所述平移系數進行溫補表溢出判斷步驟中，若當前的所述補償偏置值Offset下的所述APD查找表中對應的第一個初始寄存器值APD_DAC與所述平移系數之和小于零，則表示有參數小于0，調節Offset＝Offset-1且APD_DAC＝APD_DAC+16；若當前的所述補償偏置值Offset下的APD查找表中對應的最后一個初始寄存器值APD_DAC與所述平移系數之和大于255，調節Offset＝Offset+1且APD_DAC＝APD_DAC-16。