[發(fā)明專利]一種放射性碘活性炭取樣濾盒的探測(cè)效率校準(zhǔn)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610231698.7
• 申請(qǐng)日: 2016-04-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107300714B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-08-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳立;唐智輝;王勇;韋應(yīng)靖;黃亞雯;馮梅;李強(qiáng);楊慧梅;牛蒙青
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)輻射防護(hù)研究院;清華大學(xué)
• 主分類號(hào): G01T7/00
• 分類號(hào): G01T7/00
• 代理公司: 北京天悅專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11311
• 代理人: 田明;任曉航

1.一種放射性碘活性炭取樣濾盒的探測(cè)效率校準(zhǔn)方法，其特征在于：

所述方法包括如下步驟：

步驟一，用標(biāo)準(zhǔn)面源測(cè)得探測(cè)器對(duì)取樣濾盒中不同深度處面源的探測(cè)效率；

步驟二，擬合出取樣濾盒正向和反向放置時(shí)的探測(cè)效率曲線；

步驟三，根據(jù)所述探測(cè)效率曲線，畫(huà)出分布參數(shù)和探測(cè)效率隨正反向全能峰計(jì)數(shù)比變化的曲線；

步驟四，由測(cè)量得到的正反向全能峰計(jì)數(shù)比，查找所述曲線中對(duì)應(yīng)的點(diǎn)，獲得分布參數(shù)和探測(cè)效率；

所述正反向全能峰計(jì)數(shù)比為實(shí)驗(yàn)測(cè)得取樣濾盒正向和反向放置時(shí)未修正的探測(cè)器全能峰計(jì)數(shù)的比值；

所述分布參數(shù)和探測(cè)效率分別為碘在取樣濾盒中指數(shù)遞減分布的分布參數(shù)和NaI(Tl)探測(cè)器測(cè)量取樣濾盒中碘的探測(cè)效率。

2.如權(quán)利要求1所述的放射性碘活性炭取樣濾盒的探測(cè)效率校準(zhǔn)方法，其特征在于：

所述標(biāo)準(zhǔn)面源為多γ核素混合源，且能覆蓋I-131發(fā)射的365keVγ射線能量。

3.如權(quán)利要求1所述的放射性碘活性炭取樣濾盒的探測(cè)效率校準(zhǔn)方法，其特征在于：

所述步驟一的具體方法包括如下步驟：

(1)設(shè)定取樣濾盒深度為20mm，將一系列未使用的取樣濾盒切割成兩塊，從取樣濾盒的入口角度看，深度方向切割面的位置坐標(biāo)分別為0mm、2mm、4mm、…、20mm，相鄰兩個(gè)位置的坐標(biāo)相差2mm；

(2)將標(biāo)準(zhǔn)面源放置在切割面處，合上兩個(gè)切割體，分別正向和反向?qū)⑷訛V盒放置在實(shí)際測(cè)量中的位置上，校準(zhǔn)不同深度截面層的面源探測(cè)效率；

(3)用三次樣條插值法求得探測(cè)器對(duì)365keVγ射線的探測(cè)效率。

4.如權(quán)利要求1所述的放射性碘活性炭取樣濾盒的探測(cè)效率校準(zhǔn)方法，其特征在于：

所述步驟二的擬合方法如下：

取樣濾盒正向放置時(shí)，探測(cè)效率曲線為：

η₁(x)＝ax²+bx+c

取樣濾盒反向放置時(shí)，探測(cè)效率曲線為：

η₂(x)＝dx²+ex+f

上述兩式中，a、b、c、d、e、f為擬合系數(shù)；x為取樣濾盒的截面層與入口端面的距離，取值范圍為：0xL，L為取樣濾盒的總深度。