[發明專利]一種圖像自動壞點校正裝置及方法有效
| 申請號: | 201610231617.3 | 申請日: | 2016-04-14 | 
| 公開(公告)號: | CN107305695B | 公開(公告)日: | 2021-03-09 | 
| 發明(設計)人: | 田景軍;程志勇;潘科;黃暢;潘澤民;謝煜璋 | 申請(專利權)人: | 上海富瀚微電子股份有限公司 | 
| 主分類號: | G06T7/80 | 分類號: | G06T7/80 | 
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 許曉琳 | 
| 地址: | 201103 上海市徐*** | 國省代碼: | 上海;31 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 圖像 自動 校正 裝置 方法 | ||
1.一種圖像自動壞點校正方法,包括如下步驟:
以當前像素為中心的鄰域進行計算,分別在四個方向對當前位置的像素值進行插值估計,得到四個方向的插值估計值;
分別在四個方向計算其方向權值;
計算當前像素點為壞點的概率;
根據計算得到的四個方向的插值估計值以及四個方向的方向權值,擬合得到當前像素的估計值;
根據計算得到的壞點概率、當前像素估計值以及當前像素值,計算得到當前像素校正值;
于計算當前像素點為壞點的概率的步驟中,分別以R、G、B點為中心,取鄰域內同通道像素得到集合A,并求取集合A中的最大像素值和最小像素值,最后計算得到當前像素點為壞點的概率F;
選擇以當前像素為中心選擇5x5的鄰域,該四個方向分別為135度斜方向的方向0、垂直方向的方向1、45度斜方向的方向2以及水平方向的方向3;
計算四個方向的插值估計值的步驟包括:
a)以R點為中心時,利用下式計算四個方向的插值
b)、以B點為中心時,利用下式計算四個方向的插值
c)、以G點為中心時,利用下式計算四個方向的插值
其中,所有有關R、B、G的參數代表以當前像素點為中心5x5鄰域中對應的像素值。
2.如權利要求1所述的一種圖像自動壞點校正方法,其特征在于,計算四個方向的方向權值步驟包括:
a)、以R點為中心時,利用下式計算四個方向的權值
b)、以B點為中心時,利用下式計算四個方向的權值
c)、以G點為中心時,利用下式計算四個方向的權值
3.如權利要求2所述的一種圖像自動壞點校正方法,其特征在于:于計算當前像素點為壞點的概率的步驟中,
a)、以R點為中心時,
若R12<(MinR-TL),則
若R12>(MaxR+TH),則
否則
F=0
其中,A=[R0,R2,R4,R10,R14,R20,R22,R24],MaxR=Max(A)MinR=Min(A),參數TL,TH,T由具體應用配置具體參數值,
b)、以B點為中心時,
若B12<(MinB-TL),則
若B12>(MaxB+TH),則
否則
F=0
其中,A=[B0,B2,B4,B10,B14,B20,B22,B24],MaxB=Max(A),MinB=Min(A),參數TL,TH,T由具體應用配置具體參數值,
c)、以G點為中心時
若G12<(MinG-TL),則
若G12>(MaxG+TH),則
否則
F=0
其中,A=[G0,G2,G4,G6,G8,G10,G14,G16,G1B,G20,G22、G24],MaxG=Max(A),MinG=Min(A),參數TL,TH,T由具體應用配置具體參數值。
4.如權利要求3所述的一種圖像自動壞點校正方法,其特征在于,于擬合當前像素的估計值的步驟中,利用下式計算得到當前像素位置的估計值P:
5.如權利要求4所述的一種圖像自動壞點校正方法,其特征在于,計算當前像素校正值的步驟包括:
a)、以R點為中心時,利用下式獲得壞點校正結果
Rout=F×P+(1-F)*R12
b)、以B點為中心時,利用下式獲得壞點校正結果
Bout=F×P+(1-F)*B12
c)、以G點為中心時,利用下式獲得壞點校正結果
Gout=F×P+(1-F)*G12。
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