[發(fā)明專利]用于構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn)圖譜數(shù)據(jù)集的細(xì)胞構(gòu)筑信息獲取方法有效

申請?zhí)枺?/td>	201610228178.0	申請日：	2016-04-13
公開（公告）號：	CN105891208B	公開（公告）日：	2019-03-26
發(fā)明（設(shè)計(jì)）人：	駱清銘;龔輝;李向?qū)?/a>;袁菁	申請（專利權(quán)）人：	華中科技大學(xué)
主分類號：	G01N21/84	分類號：	G01N21/84;G16B15/20;G01N1/30
代理公司：	武漢開元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104	代理人：	胡紅林
地址：	430074 湖北***	國省代碼：	湖北;42
權(quán)利要求書：	查看更多	說明書：	查看更多
摘要：
搜索關(guān)鍵詞：	用于構(gòu)建標(biāo)準(zhǔn) 圖譜數(shù)據(jù) 細(xì)胞構(gòu)筑信息獲取方法
鉆瓜網(wǎng) 技術(shù)展會(huì) 專利詞庫專利權(quán)人專利榜在售專利公布日期熱門專利

【權(quán)利要求書】：

下載完整專利技術(shù)內(nèi)容需要扣除積分，VIP會(huì)員可以免費(fèi)下載。

免登錄下載普通用戶下載升級VIP會(huì)員，免費(fèi)下載

該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華中科技大學(xué)，未經(jīng)華中科技大學(xué)許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】

本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201610228178.0/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。

同類專利

專利分類

G 物理

G01 測量；測試
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)

免登錄下載普通用戶下載升級VIP會(huì)員，免費(fèi)下載

專利文獻(xiàn)下載

說明：

1、專利原文基于中國國家知識產(chǎn)權(quán)局專利說明書；

2、支持發(fā)明專利、實(shí)用新型專利、外觀設(shè)計(jì)專利（升級中）；

3、專利數(shù)據(jù)每周兩次同步更新，支持Adobe PDF格式；

4、內(nèi)容包括專利技術(shù)的結(jié)構(gòu)示意圖、流程工藝圖或技術(shù)構(gòu)造圖；

5、已全新升級為極速版,下載速度顯著提升！歡迎使用！

請您登陸后，進(jìn)行下載，點(diǎn)擊【登陸】【注冊】