[發明專利]一種飛針測試機的校正方法

有效

• 申請號: 201610227720.0
• 申請日: 2016-04-13
• 公開（公告）號: CN105785257B
• 公開（公告）日: 2019-06-14
• 發明（設計）人: 歐陽云軒;張恂;謝強;王星;翟學濤;楊朝輝;高云峰
• 申請（專利權）人: 大族激光科技產業集團股份有限公司;深圳市大族數控科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市道臻知識產權代理有限公司 44360
• 代理人: 陳琳

1.一種飛針測試機的校正方法，本飛針測試機設有第一測試軸、第二測試軸、第三測試軸、以及第四測試軸，其中，第一測試軸設有第一探針和第一CCD相機，第二測試軸設有第二探針和第二CCD相機，第三測試軸設有第三探針和第三CCD相機，第四測試軸設有第四探針和第四CCD相機，其中，第一探針和第二探針為在待測PCB板上的正面測試探針，第三探針和第四探針為在待測PCB板上的反面測試探針，其特征在于，本校正方法包括如下步驟：

第一步：取一具有多個鍍銅孔的待測PCB板，在該PCB板上選取一個鍍銅孔；

第二步：移動第一測試軸，得到第一CCD相機的中心相對于所述鍍銅孔的實際機械坐標；根據第三CCD相機的中心相對此鍍銅孔反面的理論機械坐標，微調第三CCD相機的位置，得到第三CCD相機的中心相對此鍍銅孔的實際機械坐標；

第三步：第三CCD相機在X方向上平移距離ΔL，然后第一測試軸的第一探針移動到第三測試軸的第三CCD相機的焦距內，接著微調第一測試軸的位置，得到第一探針的針尖相對第三CCD相機中心的實際機械坐標；計算第一探針的針尖與第一CCD相機的中心之間的偏移量；

第四步：移動第二測試軸，得到該第二CCD相機的中心相對所述鍍銅孔的實際機械坐標；然后第二測試軸的第二探針移動到第三測試軸的第三CCD相機的焦距內，接著微調第二測試軸的位置，得到第二探針的針尖相對第三CCD相機中心的實際機械坐標；計算第二探針的針尖與第二CCD相機的中心之間的偏移量和第一探針和第二探針在X方向上總行程；

第五步：第一測試軸的第一CCD相機移動到第三測試軸的第三CCD相機的前方，利用同樣的方法，計算出第三探針的針尖與第三CCD相機中心之間的偏移量、第四探針的針尖與第四CCD相機中心之間的偏移量、以及第三探針和第四探針在X方向上的總行程。

2.根據權利要求1所述的飛針測試機的校正方法，其特征在于：所述鍍銅孔位于待測PCB板的右邊。

3.根據權利要求1所述的飛針測試機的校正方法，其特征在于：所述第三步中的第三CCD相機在X方向上向右平移距離ΔL。

4.根據權利要求1-3任一所述的飛針測試機的校正方法，其特征在于：所述第二步包括如下具體步驟：

步驟B1：移動第一測試軸，使第一CCD相機的中心對準該鍍銅孔正面的中心，得到此時第一CCD相機的中心的實際機械坐標(CCD1.x，CCD1.y)；

步驟B2：根據第一測試軸和第三測試軸在本飛針測試機內的位置關系，飛針測試機內的測試軟件計算出第三測試軸的第三CCD相機的中心到此鍍銅孔反面的理論機械坐標(SolderLInil-CCD1.x，CCD1.y)；

步驟B3：第三測試軸的第三CCD相機移動到此鍍銅孔的反面；

步驟B4：對第三CCD相機的位置進行微調，使第三CCD相機的中心對準該鍍銅孔反面的中心，得到第三CCD相機的中心的實際機械坐標(CCD3.x，CCD3.y)。

5.根據權利要求1-3任一所述的飛針測試機的校正方法，其特征在于：所述第三步包括如下具體步驟：

步驟C1：第三測試軸的第三CCD相機在X方向上平移距離ΔL，飛針測試機的測試軟件計算出第一探針的針尖到第三CCD相機中心的坐標位置(CCD1.x+ΔL-Tip1CCDinit.x，CCD1.y-Tip1CCDinit.y)；步驟C2：第一測試軸的第一探針移動到第三測試軸的第三CCD相機的前方；

步驟C3：第一測試軸的第一探針在第三測試軸的第三CCD相機的焦距內；

步驟C4：微調第一測試軸的位置，使第三測試軸的第三CCD相機的中心對準第一測試軸的第一探針的針尖，得到此時第一探針的針尖實際機械坐標(Tip1.x，Tip1.y)，第一測試軸回零；

步驟C5：計算第一探針的針尖與第一CCD相機的中心之間的偏移量(Tip1CCD.x，Tip1CCD.y)，其中，Tip1CCD.x＝||Tip1.x-CCD1.x|-ΔL|，Tip1CCD.y＝|Tip1.y-CCD1.y|。