[發(fā)明專利]抗摔損測試機(jī)構(gòu)及具有該測試機(jī)構(gòu)的測試裝置

在審

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• 申請日: 2016-04-13
• 公開（公告）號: CN107290119A
• 公開（公告）日: 2017-10-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周以慶;楊康險;龍祥武;王明;曾科瑞;黃文憲
• 申請（專利權(quán)）人: 富泰華工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01M7/08
• 分類號: G01M7/08
• 代理公司: 深圳市賽恩倍吉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司44334
• 代理人: 謝志為

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子產(chǎn)品測試領(lǐng)域，特別涉及一種電子產(chǎn)品抗摔損測試機(jī)構(gòu)及具有該抗摔損測試機(jī)構(gòu)的測試裝置。

背景技術(shù)

隨著電子市場的發(fā)展，越來越多的電子產(chǎn)品（例如智能手機(jī)，平板電腦等）走進(jìn)了人們的生活，但在使用中經(jīng)常會出現(xiàn)不小心掉落的問題，因此在生產(chǎn)時必須保證電子產(chǎn)品具有一定的抗摔損性能。現(xiàn)有的電子產(chǎn)品抗摔損測試裝置一般都只能在單一方向上進(jìn)行摔落。然而在實(shí)際使用中，電子產(chǎn)品可能從不同角度或者方向掉落。因此，在測試電子產(chǎn)品的抗摔損性能時需要測試電子產(chǎn)品從不同角度或者方向摔落后的情況。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上內(nèi)容，有必要提出一種抗摔損測試機(jī)構(gòu)，能夠測試電子產(chǎn)品的抗摔損性能，尤其是測試電子產(chǎn)品各個邊角的抗摔損性能。

還有必要提出一種具有該抗摔損測試機(jī)構(gòu)的測試裝置。

一種抗摔損測試機(jī)構(gòu)，用于測試一電子產(chǎn)品的抗摔損性能，包括底板，所述測試機(jī)構(gòu)還包括設(shè)置在所述底板上的第一旋轉(zhuǎn)組件及控制組件、固定在所述第一旋轉(zhuǎn)組件一側(cè)的第二旋轉(zhuǎn)組件及活動設(shè)置在所述第一旋轉(zhuǎn)組件上方的測試板，所述測試板上包括跌落板，所述控制組件用于控制所述第一旋轉(zhuǎn)組件旋轉(zhuǎn)從而帶動所述第二旋轉(zhuǎn)組件由所述測試板的一邊旋轉(zhuǎn)至該測試板的另一邊，所述控制組件還用于控制所述第二旋轉(zhuǎn)組件旋轉(zhuǎn)先將所述測試板抬升，再控制所述第二旋轉(zhuǎn)組件遠(yuǎn)離該測試板從而使得該測試板下降。

在本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例中，所述第一旋轉(zhuǎn)組件包括支撐柱及設(shè)置在所述支撐柱上方的隔板，所述測試板設(shè)置在所述隔板上，所述抗摔損測試機(jī)構(gòu)還包括第一電機(jī)，所述第一電機(jī)在所述控制組件的控制下驅(qū)動所述支撐柱旋轉(zhuǎn)，從而帶動所述第二旋轉(zhuǎn)組件由所述測試板的一邊旋轉(zhuǎn)至該測試板的另一邊。

在本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例中，所述第二旋轉(zhuǎn)組件包括線性滑軌、滑塊、固定在所述滑塊上的支撐部及活動設(shè)置在所述支撐部上的檔桿，所述線性滑軌固定在所述支撐柱的一側(cè)。

在本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例中，所述滑塊朝向所述線性滑軌的一側(cè)設(shè)置有一凹槽，所述凹槽與所述線性滑軌的凸塊相對應(yīng)，所述凸塊可套設(shè)于所述凹槽內(nèi)，以使得所述滑塊可滑動地裝設(shè)于所述線性滑軌上。

在本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例中，所述抗摔損測試機(jī)構(gòu)還包括第二電機(jī)，所述第二電機(jī)在所述控制組件的控制下驅(qū)動所述滑塊在所述線性滑軌上滑動，從而使得所述檔桿遠(yuǎn)離或者靠近所述測試板。

在本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例中，所述支撐部包括一凸起，所述凸起中設(shè)置有一安裝孔，所述安裝孔中穿設(shè)有一橫桿，所述橫桿的端部與所述檔桿固定連接。

在本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例中，所述抗摔損測試機(jī)構(gòu)還上包括第三電機(jī)，所述第三電機(jī)在所述控制組件的控制下驅(qū)動所述檔桿繞所述橫桿旋轉(zhuǎn)從而將所述測試板抬起。

在本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例中，所述測試板的每一邊均設(shè)置有至少一個缺口。

在本發(fā)明的一優(yōu)選實(shí)施例中，所述測試板的每邊邊緣位置處設(shè)有至少一個立柱。

一種測試裝置，包括天線測試機(jī)構(gòu)及如上述實(shí)施例中任意一項(xiàng)所述的抗摔損測試機(jī)構(gòu)。

相對于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明所述的抗摔損測試機(jī)構(gòu)及具有該測試機(jī)構(gòu)的測試裝置，能夠測試電子產(chǎn)品的抗摔損性能，尤其是測試電子產(chǎn)品各個邊角的抗摔損性能。

附圖說明

圖1是本發(fā)明較佳實(shí)施方式中抗摔損測試機(jī)構(gòu)的組裝示意圖。

圖2是圖1所示抗摔損測試機(jī)構(gòu)的分解示意圖。

圖3是圖1所示抗摔損測試機(jī)構(gòu)另一角度下的示意圖。

主要元件符號說明