[發明專利]一種晶體硅的制備方法及晶體硅有效
| 申請號: | 201610227091.1 | 申請日: | 2016-04-13 |
| 公開(公告)號: | CN105821474B | 公開(公告)日: | 2018-01-09 |
| 發明(設計)人: | 羅鴻志;胡動力;何亮 | 申請(專利權)人: | 江西賽維LDK太陽能高科技有限公司 |
| 主分類號: | C30B29/06 | 分類號: | C30B29/06;C30B15/04;C30B11/04;C30B28/06 |
| 代理公司: | 廣州三環專利商標代理有限公司44202 | 代理人: | 郝傳鑫,熊永強 |
| 地址: | 338000 江西省新余*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 晶體 制備 方法 | ||
1.一種晶體硅的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
在晶體硅生長用坩堝內裝填硅料,同時向所述坩堝內放入摻雜劑,并將所述坩堝放入用于晶體硅生長的爐子內,所述摻雜劑包括硼摻雜劑和銦摻雜劑,所述硼摻雜劑為含有硼元素的單質、合金和氮化物中的一種或多種,所述銦摻雜劑為含有銦元素的單質、合金和氮化物中的一種或多種,在所述硅料中,硼元素的原子體積濃度為1014-1017atmos/cm3,銦元素的原子體積濃度為1014-1018atmos/cm3;所述硼和銦元素在所述硅料中的原子體積濃度比為9:1-1:1;
在保護氣氛下,加熱使所述坩堝內的硅料和摻雜劑完全熔化得到硅熔體,調節晶體硅生長參數,使所述硅熔體開始長晶,得到晶體硅,其中,所述晶體硅包括直拉單晶硅、多晶硅錠或類單晶硅錠。
2.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述摻雜劑還包括鍺摻雜劑,鍺元素在所述硅料中的原子體積濃度不超過1020atmos/cm3。
3.如權利要求2所述的制備方法,其特征在于,所述鍺元素在所述硅料中的原子體積濃度為1014-1019atmos/cm3。
4.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述硼摻雜劑為硼粉、氮化硼和硼硅母合金中的一種或多種;所述銦摻雜劑為金屬銦和銦硅母合金中的一種或多種。
5.如權利要求2所述的制備方法,其特征在于,所述鍺摻雜劑包括金屬鍺和鍺硅母合金中的一種或多種。
6.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于,向所述坩堝內放入摻雜劑,具體為:
先在所述坩堝的底部鋪滿硅料,然后把所述摻雜劑放在所述坩堝內的硅料之上,再將其余硅料放置于所述坩堝內,使加入的硅料完全覆蓋已加入的摻雜劑。
7.如權利要求6所述的制備方法,其特征在于,以坩堝底部為基準,在坩堝高度的1/4-1/2處放入第一摻雜劑,在坩堝高度的1/3-2/3處放入含硼元素的摻雜劑,其中,所述第一摻雜劑含有銦元素,或者含有銦和鍺元素。
8.如權利要求1所述的制備方法,其特征在于,當所述晶體硅為多晶硅鑄錠或準單晶鑄錠時,所述用于晶體硅生長的爐子為鑄錠爐;當所述晶體硅為直拉單晶硅時,所述用于晶體硅生長的爐子為單晶爐。
9.一種由如權利要求1-8任一項所述的制備方法制得的晶體硅。
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