[發(fā)明專(zhuān)利]顯示面板測(cè)試裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201610225835.6
• 申請(qǐng)日: 2016-04-12
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105676494A
• 公開(kāi)（公告）日: 2016-06-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 夏吉
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 武漢華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G02F1/13
• 分類(lèi)號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

1.一種顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于，所述顯示面板測(cè) 試裝置用于對(duì)顯示面板進(jìn)行測(cè)試，所述顯示面板測(cè)試裝置包括：

一機(jī)臺(tái)，所述機(jī)臺(tái)用于承載所述顯示面板；

一接觸針，用于與所述顯示面板的接觸墊接觸，以向所述顯 示面板輸出測(cè)試信號(hào)；

至少兩吸附構(gòu)件組合，所述吸附構(gòu)件組合包括至少一吸附構(gòu) 件，所述吸附構(gòu)件設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上，所述吸附構(gòu)件用于吸附所 述顯示面板，以在所述顯示面板接受測(cè)試的過(guò)程中固定所述顯示 面板。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于， 所述吸附構(gòu)件設(shè)置于待測(cè)試的所述顯示面板所處的平面的下方， 所述吸附構(gòu)件用于在所述平面的下方吸附所述顯示面板，以固定 所述顯示面板，以及用于防止所述顯示面板的至少一第一部分翹 起；

其中，所述顯示面板的至少一所述第一部分翹起是由所述顯 示面板的至少一第二部分受到所述接觸針擠壓引起的。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于， 所述吸附構(gòu)件包括：

一吸附部，所述吸附部用于與所述顯示面板的預(yù)定部位相接 觸；

一吸氣管，所述吸氣管與所述吸附部連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于， 所述吸附部的橫截面的最小外接圓的直徑小于或等于所述顯示 面板的預(yù)定部位的黑色矩陣塊的線寬，其中，所述預(yù)定部位為所 述顯示面板的邊緣部位。

5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征 在于，所述顯示面板測(cè)試裝置還包括：

至少一抽氣機(jī)，所述抽氣機(jī)與至少一所述吸氣管連接，所述 抽氣機(jī)用于通過(guò)所述吸附構(gòu)件抽氣，以使所述吸附構(gòu)件向所述顯 示面板施加吸力。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于， 所述顯示面板測(cè)試裝置還包括：

控制電路，所述控制電路與所述吸附構(gòu)件電性連接，所述控 制電路用于控制所述吸附構(gòu)件吸附所述顯示面板，以及用于控制 所述吸附構(gòu)件松開(kāi)所述顯示面板。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于， 所述機(jī)臺(tái)設(shè)置有預(yù)定區(qū)域，所述預(yù)定區(qū)域?yàn)樗鰴C(jī)臺(tái)承載所述顯 示面板的區(qū)域；

至少兩所述吸附構(gòu)件組合設(shè)置于所述預(yù)定區(qū)域內(nèi)，所述吸附 構(gòu)件還用于支撐所述顯示面板。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于， 兩所述吸附構(gòu)件組合分布在所述預(yù)定區(qū)域中與所述顯示面板的 兩側(cè)邊相對(duì)應(yīng)的位置處。

9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征 在于，至少四所述吸附構(gòu)件所處的位置分布在所述顯示面板四周 的邊緣部處。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于， 還包括畫(huà)面檢測(cè)機(jī)，所述畫(huà)面檢測(cè)機(jī)設(shè)置于所述機(jī)臺(tái)上方，所述 畫(huà)面檢測(cè)機(jī)的攝像面與所述顯示面板所在的平面平行，所述畫(huà)面 檢測(cè)機(jī)用于拍攝所述顯示面板所顯示的測(cè)試圖像，以生成拍攝圖 像，所述畫(huà)面檢測(cè)機(jī)還用于通過(guò)所述拍攝圖像對(duì)所述顯示面板進(jìn) 行測(cè)試分析。