[發(fā)明專利]GaN外延片的制作方法及制備GaN外延片的設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610222143.6 | 申請(qǐng)日: | 2016-04-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105742160A | 公開(公告)日: | 2016-07-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李東昇;丁海生;陳善麟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 杭州士蘭微電子股份有限公司;杭州士蘭明芯科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/02 | 分類號(hào): | H01L21/02;C30B25/18;C23C16/34;C23C16/20;C23C16/40 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 智云 |
| 地址: | 310012*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | gan 外延 制作方法 制備 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件制造領(lǐng)域,尤其涉及一種GaN外延片的制作方法及制備GaN外延片的設(shè)備。
背景技術(shù)
GaN基LED自從20世紀(jì)90年代初商業(yè)化以來,經(jīng)過二十幾年的發(fā)展,已經(jīng)開始全面進(jìn)入通用照明領(lǐng)域,隨著LED應(yīng)用范圍的進(jìn)一步擴(kuò)大,各領(lǐng)域?qū)ED的發(fā)光效率、使用壽命和性價(jià)比等指標(biāo)提出了越來越高的要求。GaN基LED的發(fā)光效率、使用壽命和性價(jià)比等指標(biāo)無一不與其所采用的襯底息息相關(guān)。藍(lán)寶石襯底和碳化硅襯底是目前GaN基LED器件的兩大主流襯底。
藍(lán)寶石襯底生產(chǎn)技術(shù)相對(duì)成熟、化學(xué)穩(wěn)定性好、機(jī)械強(qiáng)度高,但其導(dǎo)熱性差,不利于LED使用壽命的提高;且不易于向大尺寸方向發(fā)展。碳化硅襯底是電和熱的良導(dǎo)體,且具有化學(xué)穩(wěn)定性好的優(yōu)勢(shì),在半導(dǎo)體照明技術(shù)領(lǐng)域具有重要地位,但其價(jià)格高昂,性價(jià)比較差。
有鑒于上述兩者的缺點(diǎn),提出了采用硅作為襯底。與藍(lán)寶石襯底和碳化硅襯底相比,首先,硅襯底是電的良導(dǎo)體,可以實(shí)現(xiàn)電流在LED芯片內(nèi)部縱向流動(dòng),從而可以通過增加LED的發(fā)光面積提高其發(fā)光效率;其次,硅襯底又是熱的良導(dǎo)體,可以通過增加LED的散熱效果提高其使用壽命;最后,硅襯底不僅成本低,且可向大尺寸方向發(fā)展,并有望通過將其大尺寸的優(yōu)勢(shì)與集成電路行業(yè)的自動(dòng)化設(shè)備相結(jié)合,降低其生產(chǎn)成本,進(jìn)一步提高其性價(jià)比。
所以,硅襯底被認(rèn)為是未來最有發(fā)展?jié)撃艿腖ED襯底,但是,硅襯底和GaN外延層之間存在著較大的晶格失配和熱應(yīng)力失配,在生長(zhǎng)GaN外延層之前,需要在硅襯底上形成成核層和緩沖層用于調(diào)節(jié)硅襯底和GaN外延層之間的晶格失配和熱應(yīng)力失配,以便于在硅襯底上形成較高質(zhì)量的GaN外延層。
然而,生長(zhǎng)過GaN外延層的反應(yīng)腔會(huì)有少量的Ga或GaN殘留,殘留的Ga或GaN在后續(xù)批次形成成核層的過程中會(huì)揮發(fā)回熔至硅襯底的表面,與其發(fā)生反應(yīng),這不僅影響成核層和緩沖層的生長(zhǎng),還會(huì)造成GaN外延層表面質(zhì)量和晶體質(zhì)量的下降,從而嚴(yán)重影響LED芯片的良率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的之一在于提供一種GaN外延片的制作方法及制備GaN外延片的設(shè)備,以解決回熔的Ga元素與襯底發(fā)生反應(yīng)而導(dǎo)致的GaN外延片晶體質(zhì)量下降的問題。
本發(fā)明的目的之二在于提供一種能夠?qū)崿F(xiàn)上述制作方法的設(shè)備。
為了解決上述問題,本發(fā)明提出了一種GaN外延片的制作方法,包括步驟:
提供設(shè)備,所述設(shè)備包括m個(gè)反應(yīng)腔室,其中m為自然數(shù),且m≥2;
提供支撐襯底,將所述支撐襯底置于第一反應(yīng)腔室中,并在第一反應(yīng)腔室中形成成核層;
將形成有所述成核層的支撐襯底傳輸至第二反應(yīng)腔室中,并在第二反應(yīng)腔室中形成含有Ga元素的緩沖層。
進(jìn)一步的,在所述的GaN外延片的制作方法中,所述緩沖層的材料包括ⅢA族和ⅤA族中的元素。
進(jìn)一步的,在所述的GaN外延片的制作方法中,所述緩沖層的材料為AlGaN或AlGaN與GaN的混合。
進(jìn)一步的,在所述的GaN外延片的制作方法中,所述支撐襯底為硅襯底。
進(jìn)一步的,在所述的GaN外延片的制作方法中,所述成核層的材料包括AlN、Al或Al2O3中的一種或多種。
進(jìn)一步的,在所述的GaN外延片的制作方法中,所述GaN外延片還包括形成在所述緩沖層表面的GaN外延層。
進(jìn)一步的,在所述的GaN外延片的制作方法中,所述GaN外延層依次包括N型GaN外延層、有源層和P型GaN外延層。
進(jìn)一步的,在所述的GaN外延片的制作方法中,所述設(shè)備包括2個(gè)反應(yīng)腔室,所述GaN外延層和緩沖層在同一個(gè)反應(yīng)腔室中形成。
進(jìn)一步的,在所述的GaN外延片的制作方法中,所述設(shè)備至少包括3個(gè)反應(yīng)腔室,所述GaN外延層在第三個(gè)反應(yīng)腔室中形成。
在本發(fā)明的另一方面還提出了一種制備GaN外延片的設(shè)備,用于制備如上文所述的GaN外延片,包括m個(gè)反應(yīng)腔室,其中m為自然數(shù),且m≥2。
進(jìn)一步的,在所述的制備GaN外延片的設(shè)備中,還包括n個(gè)傳遞腔,連接在m個(gè)反應(yīng)腔室之間,用于傳遞支撐襯底,其中n為自然數(shù),且n<m。
進(jìn)一步的,在所述的制備GaN外延片的設(shè)備中,還包括i個(gè)機(jī)械手臂,每一個(gè)所述傳遞腔內(nèi)至少設(shè)有一個(gè)機(jī)械手臂,其中i為自然數(shù)。
進(jìn)一步的,在所述的制備GaN外延片的設(shè)備中,所述制備GaN外延片的設(shè)備為MOCVD。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





