[發(fā)明專利]一種測量單個納米顆粒對流換熱系數(shù)和比熱容的方法及系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610210661.6 | 申請日： | 2016-04-06 |
| 公開（公告）號： | CN105891255A | 公開（公告）日： | 2016-08-24 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 樊傲然;李秦宜;馬維剛;張興 | 申請（專利權(quán)）人： | 清華大學(xué) |
| 主分類號： | G01N25/20 | 分類號： | G01N25/20;G01N21/65 |
| 代理公司： | 西安智大知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 61215 | 代理人： | 段俊濤 |
| 地址： | 100084 北京市海淀區(qū)1*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 測量 單個 納米 顆粒 對流 系數(shù) 熱容 方法 系統(tǒng) | ||
【說明書】：
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