[發(fā)明專利]快速測(cè)試回收液晶純度的方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201610207937.5 | 申請(qǐng)日： | 2016-04-05 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN105891360B | 公開（公告）日： | 2018-11-23 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 巫景銘 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 深圳市華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N30/02 | 分類號(hào)： | G01N30/02;G01N30/06 |
| 代理公司： | 深圳市德力知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44265 | 代理人： | 林才桂 |
| 地址： | 518132 廣東*** | 國(guó)省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 快速 測(cè)試 回收 液晶 純度 方法 | ||
【說明書】：
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