[發(fā)明專利]一種集成保護臺面晶閘管及其制作方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201610207115.7 | 申請日: | 2016-04-05 |
| 公開(公告)號: | CN105679818A | 公開(公告)日: | 2016-06-15 |
| 發(fā)明(設計)人: | 何春海 | 申請(專利權)人: | 江蘇東晨電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/74 | 分類號: | H01L29/74;H01L21/332 |
| 代理公司: | 南京天華專利代理有限責任公司 32218 | 代理人: | 徐冬濤;劉暢 |
| 地址: | 214205 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 集成 保護 臺面 晶閘管 及其 制作方法 | ||
1.一種集成保護臺面晶閘管的制作方法,其特征在于它在玻璃鈍化層(4)上面形成一定厚度 的PI膠鈍化層(1),該PI膠鈍化層(1)在高純氮氣保護下,以280~320℃溫度,經過100~150 分鐘加熱,使PI膠鈍化層(1)亞胺化并和玻璃鈍化層(4)融合,形成集成保護層。
2.根據權利要求1所述的一種集成保護臺面晶閘管的制作方法,其特征在于具體步驟為:
一、芯片熱生長形成氧化層,用光刻技術對氧化層進行第一次光刻腐蝕,稱為穿通光 刻,擴散形成穿通區(qū)(9);
二、在穿通區(qū)(9)的基礎上,用擴散技術進行芯片正背面雙面硼基區(qū)擴散,形成基區(qū) (3)和陽極(7);
三、在基區(qū)(3)的基礎上,采用光刻技術對氧化層進行第二次光刻腐蝕,稱為開二次 陰極區(qū),形成陰極區(qū)(2);
四、用光刻技術對氧化層進行第三次光刻腐蝕,稱為開臺面槽,通過臺面腐蝕的方法, 形成一定深度的臺面槽,通過玻璃鈍化填充,形成玻璃鈍化層(4);
五、用光刻技術對氧化層進行第四次光刻腐蝕,稱為開引線孔,所述引線孔分別對準 陰極區(qū)(2)、門極(6)和陽極(7);
六、用蒸發(fā)臺蒸額定厚度的鋁膜,形成鋁電極;
七、用常規(guī)光刻的方法將不需要鋁覆蓋處的鋁去除掉,保留電極孔處的鋁電極;
八、在鋁電極的基礎上,在鋁電極表面覆蓋PI膠,采用光刻技術對表面的PI膠進行光 刻腐蝕形成PI膠鈍化層(1);
九、在玻璃鈍化層(4)上面形成一定厚度的PI膠鈍化層(1),該PI膠鈍化層(1)在 高純氮氣保護下,以280~320℃溫度,經過100~150分鐘加熱,使PI膠鈍化層(1)亞胺化 并和玻璃鈍化層(4)融合,形成集成保護層。
3.根據權利要求2所述的一種集成保護臺面晶閘管的制作方法,其特征在于步驟四中,形成 一定深度的臺面槽,深為50~80微米。
4.根據權利要求1或2所述的一種集成保護臺面晶閘管的制作方法,其特征在于在玻璃鈍化 層(4)上面形成一定厚度的PI膠鈍化層(1),厚度為3~10微米。
5.根據權利要求1或2所述的一種集成保護臺面晶閘管的制作方法,其特征在于在玻璃鈍化 層(4)上面形成一定厚度的PI膠鈍化層(1),該PI膠鈍化層(1)在高純氮氣保護下,以 300℃溫度,經過120分鐘加熱,使PI膠鈍化層(1)亞胺化并和玻璃鈍化層(4)融合, 形成集成保護層。
6.一種集成保護臺面晶閘管,其特征在于其玻璃鈍化層(4)表面覆蓋有PI膠鈍化層(1), 玻璃鈍化層(4)和PI膠鈍化層(1)形成集合保護層。
7.根據權利要求6所述的一種集成保護臺面晶閘管,其特征在于它包括芯片,在該芯片上有 陰極區(qū)(2)、基區(qū)(3)、玻璃鈍化層(4)、陰極(5)、門極(6)、陽極(7)、長基區(qū)(8) 和穿通區(qū)(9),在該芯片依次形成有基區(qū)(3),基區(qū)(3)其上形成有陰極區(qū)(2),陰極區(qū) (2)兩端形成臺面槽及玻璃鈍化層(4),玻璃鈍化層(4)表面覆蓋有PI膠鈍化層(1), 玻璃鈍化層(4)和PI膠鈍化層(1)形成集合保護層;陰極區(qū)(2)、基區(qū)(3)和陽極(7) 上形成有引線孔,所述引線孔分別對準陰極區(qū)(2)、門極(6)和陽極(7),該引線孔中填 充有鋁電極,鋁電極其上形成PI膠鈍化層(1)。
8.根據權利要求7所述的一種集成保護臺面晶閘管,其特征在于所述臺面槽深50~80微米。
9.根據權利要求6或7所述的一種集成保護臺面晶閘管,其特征在于所述玻璃鈍化層(4)表 面覆蓋有PI膠鈍化層(1),該PI膠鈍化層(1)的厚度為3~10微米。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結耗盡層或載流子集結層的電容器或電阻器;半導體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





